Scanner et base SmartSPM

Plage de balayage d'échantillon : 100 µm x 100 µm x 15 µm (± 10 %)

Type de balayage par échantillon : Non-linéarité XY 0,05 % ; non-linéarité Z 0,05 %

Bruit : 0,1 nm RMS dans la dimension XY sur une largeur de bande de 200 Hz avec les capteurs capacitatifs activés ; 0,02 nm RMS dans la dimension XY sur une largeur de bande de 100 Hz avec les capteurs capacitatifs désactivés ; < 0,04 nm RMS dans la dimension Z sur une largeur de bande de 1 000 Hz avec le capteur capacitatif

Fréquence de résonance : XY : 7 kHz (sans charge) ; Z : 15 kHz (sans charge)

Mouvement X, Y, Z : contrôle numérique en boucle fermée pour les axes X, Y, Z et plage d'approche Z motorisée 18 mm

Taille d'échantillon : 40 x 50 mm max., épaisseur 15 mm

Positionnement des échantillons : plage de positionnement motorisé des échantillons 5 x 5 mm

Résolution de positionnement : 1 µm

Tête AFM

Longueur d'onde du laser : 1 300 nm, sans interférence avec le détecteur spectroscopique

Bruit du système d'enregistrement : jusqu'à < 0,1 nm

Alignement : alignement entièrement automatisé du levier et de la photodiode

Accès à la sonde : libre accès à la sonde pour des manipulateurs et des sondes externes supplémentaires

Modes de mesure SPM

AFM contact dans l'air (en milieu liquide en option) ; AFM contact intermittent dans l'air (en milieu liquide en option) ; AFM non-contact ; imagerie de phase ; microscopie à force latérale (LFM) ; modulation de force ; AFM conductrice (en option) ; microscopie à force magnétique (MFM) ; sonde de Kelvin (microscopie à potentiel de surface, SKM, KPFM) ; microscopie capacitive et à force électrique (EFM) ; mesures de courbe de force ; microscopie à force piézoélectrique (PFM) ; nanolithographie ; nanomanipulation ; STM (en option) ; cartographie du photocourant (en option) ; mesures de la caractéristique volt-ampère (en option)

Modes de spectroscopie

Imagerie et spectroscopie confocales Raman, de fluorescence et de photoluminescence

Spectroscopie Raman exaltée par effet de pointe (TERS) en modes AFM, STM et force de cisaillement

Photoluminescence exaltée par effet de pointe (TEPL)

Microscopie et spectroscopie optiques en champ proche (NSOM/SNOM)

Unité AFM conductrice (en option)

Plage de courant :  100 fA ÷ 10 µA ; 3 plages de courant (1 nA, 100 nA et 10 µA) commutables par logiciel

Accès optique

Possibilité d'utiliser simultanément un objectif plan apochromatique supérieur et latéral : jusqu'à 100x, NA = 0,7 par le dessus ou le côté ; jusqu'à 20x et 100x simultanément

Scanner d'objectif piézoélectrique en boucle fermée pour un alignement laser spectroscopique ultrastable à long terme : plage 20 µm × 20 µm × 15 µm ; résolution : 1 nm

Spectromètre

Micro-spectromètre LabRAM Odyssey haute résolution entièrement automatisé, fonctionnant comme un microscope micro-Raman autonome

Gamme de longueurs d'onde : de 50 cm^-1 à 4 000 cm^-1 ou jusqu'à 10 cm^-1 avec l'option de filtre ultra basse fréquence (ULF)

Réseaux : différents réseaux de 150 t/mm à 3 600 t/mm ; 2 réseaux sur tourelle contrôlée par ordinateur, facilement interchangeables, montage cinématique

Conception optique : spectrographe achromatique et optique de couplage achromatique

Automatisation : fonctionnement entièrement motorisé, contrôlé par logiciel

Détection

Gamme complète de détecteurs CCD, d'EMCCD et de détecteurs infrarouges : barrette de détecteurs InGaAs, détecteurs monocanaux étendus InGaAs, InSb, CdTe, etc.

Sources laser

Longueurs d'onde : gamme complète de longueurs d'onde allant du DUV (229 nm) à l'IR (jusqu'à 1064 nm)

Longueur d'onde standard : 532 nm, 638 nm, 785 nm

Automatisation : commutation entièrement automatisée des lasers et des filtres pour un maximum de 3 lasers simultanés ; sélection de la polarisation du laser et options d'analyse spectrale pour toutes les longueurs d'onde

Logiciels

Pack logiciel intégré avec SPM complet, spectromètre et outil de contrôle d'acquisition de données, comprenant une suite d'analyse et de traitement des données spectroscopiques et SPM (adaptation, déconvolution et filtrage de spectre inclus). Des modules en option proposent une suite d'analyse univariée et multivariée (PCA, MCR, HCA, DCA) et des fonctionnalités de détection de particules et de recherche spectrale.