XploRA Nano

AFM-Raman pour l'imagerie physique et chimique

Système entièrement intégré basé sur le microscope à sonde locale de pointe SmartSPM et le micro-spectromètre Raman XploRA.

Compact, entièrement automatisé et facile à utiliser, le XploRA Nano concentre toute la puissance de la technologie AFM-Raman dans un système complet et abordable, mettant l'imagerie TERS à la portée de tous. Système TERS éprouvé.

Segment: Scientific

Division: AFM and AFM-Raman

Fabricant: HORIBA France SAS

Plateforme d'analyse multi-échantillons

Il est possible d'effectuer des mesures à l'échelle macro, micro et nanométrique sur la même plateforme.

Facilité d'utilisation

Fonctionnement entièrement automatisé pour des mesures en quelques minutes.

De véritables performances confocales

Haute résolution spatiale, étapes de cartographie automatisées, options complètes de visualisation au microscope.

Collecte haute efficacité

Détection Raman par le dessus et par le côté pour optimiser la résolution et le rendement lors des mesures colocalisées et exaltées par effet de pointe (Raman et photoluminescence).

Haute résolution spectrale

Résolution spectrale ultra performante, plusieurs réseaux avec commutation automatique, analyse dans une large gamme spectrale pour Raman et PL.

Haute résolution spatiale

Résolution spectroscopique à l'échelle nanométrique (jusqu'à 10 nm) grâce aux spectroscopies optiques exaltées par effet de pointe (Raman et photoluminescence).

Multi-technique/Multi-environnement

Plusieurs modes SPM sont disponibles : modes AFM, conducteur et électrique (cAFM, KPFM), STM, cellule liquide et environnement électrochimique, cartographie chimique par TERS/TEPL, etc. Contrôle total sur les 2 instruments depuis un poste de travail avec un logiciel de contrôle puissant, possibilité d'utiliser le SPM et le spectromètre simultanément ou de façon indépendante

Robustesse/Stabilité

Scanners AFM à haute fréquence de résonance, extrêmement silencieux Haute performance sans isolation active contre les vibrations.

Scanner et base SmartSPM

Plage de balayage d'échantillon : 100 µm x 100 µm x 15 µm (± 10 %)

Type de balayage par échantillon : Non-linéarité XY 0,05 % ; non-linéarité Z 0,05 %

Bruit : 0,1 nm RMS dans la dimension XY sur une largeur de bande de 200 Hz avec les capteurs capacitatifs activés ; 0,02 nm RMS dans la dimension XY sur une largeur de bande de 100 Hz avec les capteurs capacitatifs désactivés ; < 0,04 nm RMS dans la dimension Z sur une largeur de bande de 1 000 Hz avec le capteur capacitatif

Fréquence de résonance : XY : 7 kHz (sans charge) ; Z : 15 kHz (sans charge)

Mouvement X, Y, Z : contrôle numérique en boucle fermée pour les axes X, Y, Z et plage d'approche Z motorisée 18 mm

Taille d'échantillon : 40 x 50 mm max., épaisseur 15 mm

Positionnement des échantillons : plage de positionnement motorisé des échantillons 5 x 5 mm

Résolution de positionnement : 1 µm

Tête AFM

Longueur d'onde du laser : 1 300 nm, sans interférence avec le détecteur spectroscopique

Alignement : alignement entièrement automatisé du levier et de la photodiode

Accès à la sonde : libre accès à la sonde pour des manipulateurs et des sondes externes supplémentaires

Modes de mesure SPM

AFM contact dans l'air (en milieu liquide en option) ; AFM contact intermittent dans l'air (en milieu liquide en option) ; AFM non-contact ; imagerie de phase ; microscopie à force latérale (LFM) ; modulation de force ; AFM conductrice (en option) ; microscopie à force magnétique (MFM) ; sonde de Kelvin (microscopie à potentiel de surface, SKM, KPFM) ; microscopie capacitive et à force électrique (EFM) ; mesures de courbe de force ; microscopie à force piézoélectrique (PFM) ; nanolithographie ; nanomanipulation ; STM (en option) ; cartographie du photocourant (en option) ; mesures de la caractéristique volt-ampère (en option)

Modes de spectroscopie

Imagerie et spectroscopie confocales Raman, de fluorescence et de photoluminescence

Spectroscopie Raman exaltée par effet de pointe (TERS) en modes AFM, STM et force de cisaillement

Photoluminescence exaltée par effet de pointe (TEPL)

Microscopie et spectroscopie optiques en champ proche (NSOM/SNOM)

Unité AFM conductrice (en option)

Plage de courant : 100 fA ÷ 10 µA ; 3 plages de courant (1 nA, 100 nA et 10 µA) commutables par logiciel

Accès optique

Possibilité d'utiliser simultanément un objectif planapochromatique supérieur et latéral : jusqu'à 100x, NA = 0,7 par le dessus ou le côté ; jusqu'à 20x et 100x simultanément

Scanner d'objectif piézoélectrique en boucle fermée pour un alignement laser spectroscopique ultrastable à long terme : plage 20 µm × 20 µm × 15 µm ; résolution : 1 nm

Spectromètre

Micro-spectromètres compacts XploRA Plus entièrement automatisés, fonctionnant comme un microscope micro-Raman autonome

Gamme de longueurs d'onde : de 60 cm-1 à 4 000 cm-1

Réseaux : 4 réseaux sur une tourelle contrôlée par ordinateur (600, 1 200, 1 800 et 2 400 g/mm)

Automatisation : fonctionnement entièrement motorisé, contrôlé par logiciel

Détection

Gamme complète de détecteurs CCD et d'EMCCD.

Sources laser

Longueur d'onde standard : 532 nm, 638 nm, 785 nm.

Automatisation : fonctionnement entièrement motorisé, contrôlé par logiciel

Logiciels

Pack logiciel intégré avec SPM complet, spectromètre et outil de contrôle d'acquisition de données, comprenant une suite d'analyse et de traitement des données spectroscopiques et SPM (adaptation, déconvolution et filtrage de spectre inclus). Des modules en option proposent une suite d'analyse univariée et multivariée (PCA, MCR, HCA, DCA) et des fonctionnalités de détection de particules et de recherche spectrale.

Colocalized AFM-Raman Analysis of 2D Materials Heterostructures

Van der Waals heterostructures, with their unique properties arising from the weak interlayer coupling and strong in-plane bonding, offer exciting opportunities for the design of novel materials with tailored electronic, optical, and mechanical properties.