LabRAM Soleil Nano

Nanoscopie corrélative directe en temps réel

Système entièrement intégré basé sur notre microscope à sonde locale OmegaScope et notre microscope Raman LabRAM Soleil. Le système LabRAM Soleil Nano propose des fonctions totalement inédites pour les mesures AFM-Raman colocalisées et de photoluminescence directes. Les modes d'imagerie AFM (topographique, électrique, mécanique, etc.) et l'acquisition Raman peuvent être utilisés de façon séquentielle ou simultanée au même emplacement sur la surface de l'échantillon. La nanorésolution optique est également accessible avec la spectroscopie Raman et la photoluminescence exaltées par effet de pointe (TERS/TEPL). Le LabRAM Soleil Nano est compatible avec la chambre climatique pour les mesures AFM et Raman en atmosphère contrôlée et à basse température.

Segment: Scientific

Division: AFM and AFM-Raman

Fabricant: HORIBA France SAS

Plateforme d'analyse multi-échantillons

Il est possible d'effectuer des mesures à l'échelle macro, micro et nanométrique sur la même plateforme AFM-Raman.

Multi-technique / Multi-environnement

Plusieurs modes SPM (microscopie à sonde locale) sont disponibles : AFM, mesures de courbes de force, modes conducteur et électrique (cAFM, KPFM), STM, cellule liquide et environnement électrochimique, cartographie chimique par TERS/TEPL, etc. Contrôle total de l'acquisition depuis un poste de travail avec un logiciel de contrôle puissant. Possibilité d'utiliser le SPM et le microscope Raman/PL simultanément ou de façon indépendante.

Compatible avec la chambre AFM pour le contrôle de l'environnement, le contrôle de l'humidité et le refroidissement du porte-échantillon.

Robustesse / Stabilité

Scanners AFM à haute fréquence de résonance. Haute performance sans isolation active contre les vibrations.

Facilité d'utilisation

Fonctionnement entièrement automatisé pour des mesures en quelques minutes.

Collecte haute efficacité

Détection Raman/PL par le dessus et par le côté avec des objectifs à grande ouverture numérique pour optimiser la résolution et le rendement lors des mesures colocalisées et exaltées par effet de pointe (Raman et photoluminescence).

Plateforme achromatique multimodale UV-VIS-NIR à haut rendement

Conçue pour la spectrographie Raman, la photoluminescence, la spectrographie Raman à ultra basse fréquence, la luminescence par conversion ascendante, l'électroluminescence, etc.
Jusqu'à 4 lasers internes et 6 filtres différents, tourelle 4 réseaux.

Haute résolution spatiale

Résolution spectroscopique à l'échelle nanométrique (jusqu'à 10 nm) grâce aux spectroscopies optiques exaltées par effet de pointe, à savoir TERS (spectroscopie Raman exaltée par effet de pointe) et TEP (photoluminescence exaltée par effet de pointe).

Fréquence de coupure très basse jusqu'à 30 cm^-1 avec haut rendement

Imagerie Raman ultrarapide

SmartSampling™ - Cartographies Raman 100 fois plus rapides (prêtes en quelques minutes)
Imagerie confocale 3D par nappe de lumière Raman avec le système breveté Q-Scan™

Scanner et base SmartSPM

Plage de balayage d'échantillon : 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10 %)

Type de balayage par échantillon : XY Non-linéarité 0,05 %; non-linéarité Z 0,05 %

Bruit : 0.1 nm RMS dans la dimension XY sur une largeur de bande de 200 Hz avec les capteurs capacitatifs activés ; 0,02 nm RMS dans la dimension XY sur une largeur de bande de 100 Hz avec les capteurs capacitatifs désactivés ; < 0,04 nm RMS dans la dimension Z sur une largeur de bande de 1 000 Hz avec le capteur capacitatif

Fréquence de résonance : XY: 7 kHz (sans charge); Z: 15 kHz (sans charge)

Mouvement X, Y, Z : contrôle numérique en boucle fermée pour les axes X, Y, Z et plage d'approche Z motorisée 18 mm

Taille d'échantillon : Maximum 40 x 50 mm, épaisseur 15 mm

Positionnement des échantillons : plage de positionnement motorisé des échantillons 5 x 5 mm

Résolution de positionnement : 1 µm

Tête AFM

Longueur d'onde du laser : 1300 nm, sans interférence avec le détecteur spectroscopique

Bruit du système d'enregistrement : jusqu'à < 0,1 nm

Alignement : alignement entièrement automatisé du levier et de la photodiode

Accès à la sonde : libre accès à la sonde pour des manipulateurs et des sondes externes supplémentaires

Modes de mesure SPM

AFM contact dans l'air (en milieu liquide en option) ; AFM contact intermittent dans l'air (en milieu liquide en option) ; AFM non contact ; imagerie de phase ; microscopie à force latérale (LFM) ; modulation de force ; AFM conductrice (en option) ; microscopie à force magnétique (MFM) ; sonde de Kelvin (microscopie à potentiel de surface, SKM, KPFM) ; microscopie capacitive et à force électrique (EFM) ; mesures de courbe de force ; microscopie à force piézoélectrique (PFM) ; nanolithographie ; nanomanipulation ; STM (en option) ; cartographie du photocourant (en option) ; mesures de la caractéristique volt-ampère (en option)

Modes de spectroscopie

Imagerie et spectroscopie confocales Raman, de fluorescence et de photoluminescence

Spectroscopie Raman exaltée par effet de pointe (TERS) et photoluminescence exaltée par effet de pointe (TEPL) en modes AFM, STM et force de cisaillement

Microscopie et spectroscopie optiques en champ proche (NSOM/SNOM)

Options

Unité conductrice : plage de courant 100 fA ÷ 10 uA/3 plages de courant (1 nA, 100 nA et 10 µA) commutables par logiciel
Cellule liquide/Cellule électrochimique
Contrôle de la température de la cellule liquide : chauffage jusqu'à 60°C

Chambre climatique

Système de contrôle de l'humidité : plage d'humidité relative 10-85 %/Stabilité de l'humidité relative ± 1 %

Module de chauffage et de refroidissement : de -50 °C à +100 °C
Module de chauffage : chauffage jusqu'à 300 °C/stabilité de la température 0,1 °C, ou chauffage jusqu'à 150 °C/stabilité de température 0,01 °C
Support de diapason à force de cisaillement et à force normale combinées
Support STM
Module d'accès aux signaux

Accès optique

Possibilité d'utiliser simultanément un objectif planapochromatique supérieur et latéral : jusqu'à 100x, NA = 0,7 par le dessus ou le côté ; jusqu'à 20x et 100x simultanément

Scanner d'objectif piézoélectrique en boucle fermée pour un alignement laser spectroscopique ultrastable à long terme : plage 20 µm × 20 µm × 15 µm ; résolution : 1 nm

Spectromètre

Gamme de longueurs d'onde : UV- VIS- NIR ; système à miroir achromatique à haut rendement optimisé pour les longueurs d'onde de 300 nm à 1 600 nm, sans changement d'optique.

Lasers intégrés : jusqu'à 4 lasers à l'état solide, longueurs d'onde NUV à NIR disponibles.

Lasers externes : illimités, généralement utilisés pour les lasers à gaz de grande dimension et les lasers ultrarapides.

Vitesse de balayage du spectromètre : jusqu'à 400 nm/s, avec un réseau de 600 g/mm, monté sur une tourelle standard à 4 réseaux.

Nombre de réseaux : illimité ; tourelle motorisée interchangeable à 4 réseaux.

Imagerie rapide : < 1 ms/spectre SWIFT, SWIFT XS EMCCD, répétitivité SWIFT, gamme étendue SWIFT et SmartSampling pour une imagerie ultrarapide.

Coupure à nombre d'onde standard : 30 cm^-1, avec filtres de bord pour les longueurs d'onde de 532, 638 et 785 nm, rejet d'injection, transmission > 99 %.

Logiciels

Pack logiciel intégré avec SPM complet, spectromètre et outil de contrôle d'acquisition de données, suite d'analyse et de traitement des données spectroscopiques et SPM (adaptation, déconvolution et filtrage de spectre inclus). Des modules en option proposent une suite d'analyse univariée et multivariée (PCA, MCR, HCA, DCA) et des fonctionnalités de détection de particules et de recherche spectrale.

Colocalized AFM-Raman Analysis of 2D Materials Heterostructures

Van der Waals heterostructures, with their unique properties arising from the weak interlayer coupling and strong in-plane bonding, offer exciting opportunities for the design of novel materials with tailored electronic, optical, and mechanical properties.