Raman

Solution Raman par Fonction Matérielle

En associant des innovations matérielles de pointe à des logiciels axés sur l'utilisateur, HORIBA propose des instruments qui s'adaptent à un large éventail d'applications, des analyses de routine aux exigences scientifiques les plus complexes.

Qu'il s'agisse d'accélérer l'imagerie, de réaliser une cartographie chimique à l'échelle nanométrique ou d'assurer une surveillance in situ précise, les technologies HORIBA sont conçues pour soutenir vos recherches avec fiabilité, précision et facilité d'utilisation.

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L'imagerie rapide

L'imagerie rapide est une technique de cartographie chimique rapide conçue pour acquérir des données Raman spatialement résolues sur toute la surface d'un échantillon en une fraction du temps requis par la cartographie traditionnelle point par point.

Elle fonctionne en synchronisant un plateau motorisé mobile avec une acquisition spectrale ultra rapide, ce qui permet au système de collecter des spectres Raman complets à chaque pixel tout en balayant l'échantillon à grande vitesse.

Cette approche réduit le temps d'acquisition tout en préservant l'intégrité spectrale, ce qui la rend idéale pour l'analyse à haut débit et la visualisation en temps réel dans de nombreux domaines tels que la science des matériaux, les semi-conducteurs ou les sciences de la vie.

QScan™ est un mode de cartographie rapide point par point, idéal pour les scans de petite surface à haute résolution. Il déplace le spot laser à l'aide de miroirs galvanométriques au lieu de déplacer physiquement la platine, ce qui permet un balayage rapide et précis sans mouvement mécanique, parfait pour les échantillons délicats ou irréguliers.

Associée aux fonctionnalités du logiciel LabSpec 6, simples à utiliser dès leur installation, telles que Smart Sampling et SWIFT, l'imagerie rapide améliore les performances du spectromètre Raman grâce à l'automatisation et une expérience utilisateur inégalable.

SmartSampling™ est une technique de cartographie ciblée qui concentre automatiquement la collecte de données sur les zones d'intérêt identifiées par le contraste visuel et les seuils d'intensité. Elle ignore les zones uniformes ou peu informatives, ce qui réduit le temps d'acquisition et améliore l'efficacité de la cartographie.
SWIFT™ (Scanning With Intelligent Fast Technology) est le mode d'imagerie Raman ultra-rapide de HORIBA, qui acquiert des spectres pendant que la platine se déplace en continu. En combinant la vitesse avec des données spectrales complètes à chaque pixel, SWIFT™ est idéal pour la cartographie à haut débit et à grande surface avec une excellente intégrité spectrale.

Découvrez cette technologie grâce à nos ressources :

Note d'application (en anglais) : Graphene Studies Using Raman Spectroscopy
Note d'application (en anglais) : Characterization of protective mask fibers

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Le TERS : imagerie chimique à l'échelle nanométrique

La spectroscopie Raman exaltée par pointe (TERS) combine la spectroscopie Raman et la microscopie à force atomique (AFM) pour obtenir une imagerie chimique à l'échelle nanométrique, bien au-delà de la résolution Raman standard. Une pointe AFM recouverte de métal concentre la lumière laser en un « point chaud » localisé, améliorant ainsi le signal Raman provenant de caractéristiques aussi petites que des molécules ou des défauts.

Les systèmes compatibles avec TERS de HORIBA intègrent un matériel AFM de haute stabilité, un alignement optique précis et une isolation contre les vibrations afin de garantir des performances fiables et une haute résolution.
Cette fonctionnalité de pointe est idéale pour la science des matériaux, les semi-conducteurs et les biomatériaux, offrant des informations détaillées sur la structure et la composition chimique à l'échelle nanométrique.

Découvrez cette technologie grâce à nos ressources :

Note d'application (en anglais) : Characterization of MoS₂ flakes
Note d'application (en anglais) : Characterization of Carbon Nanotubes using Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (TERS)
Note d'application (en anglais) : Characterization of Graphene using TERS

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L'ultra-basse fréquence (ULF)

L'analyse Raman à ultra-basse fréquence (ULF) permet d'effectuer des mesures Raman jusqu'à 5 cm⁻¹, donnant ainsi accès à des vibrations à basse fréquence sans sacrifier la vitesse ou la gamme spectrale.

Contrairement aux configurations Raman standard, ce matériel intégré rend le Raman à basse fréquence accessible sur un microscope Raman compact et courant. Il maintient le débit élevé d'un spectromètre unique et capture simultanément les signaux Stokes et Anti-Stokes.

Il ouvre de nouvelles perspectives sur les matériaux dans les polymorphes pharmaceutiques, les nanotubes de carbone et d'autres matériaux avancés, où les détails spectraux ultra-fins révèlent des informations structurelles essentielles.

Découvrez cette technologie grâce à nos ressources :

Note d'application (en anglais) : Structural characterization of WS₂ flakes by Photoluminescence and ultra-low frequency Raman spectroscopy on a unique multimode platform

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La mesure in situ

L'analyse in situ consiste à observer et à mesurer en temps réel les changements chimiques ou structurels au moment où ils se produisent, directement dans l'environnement où le processus se déroule, sans déplacer ni endommager l'échantillon.

Que l'échantillon nécessite d'être chauffé, refroidi, soumis à une pression, exposé à la lumière ou traité dans un environnement gazeux ou liquide, les systèmes HORIBA peuvent être équipés de plateaux à échantillons spécialisés, de cellules environnementales et de chambres de réaction. Ces systèmes permettent d'effectuer des mesures précises dans des environnements contrôlés (température, humidité ou pression) tandis que l'échantillon est soumis à des conditions de fonctionnement réelles.

Cette méthode convient à la catalyse, aux tests de batteries, aux polymères, aux semi-conducteurs, aux matériaux 2D, etc.

Découvrez cette technologie grâce à nos ressources :

Note d'application (en anglais) : In situ characterization of heterogeneous catalytic reactions

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La mesure sur grands wafers

Les spectromètres Raman HORIBA sont spécialement optimisés pour les applications dans le domaine des semi-conducteurs. Ils offrent des fonctionnalités de pointe pour l'inspection des défauts, l'analyse de l'uniformité et le contrôle des procédés.

Grâce à leurs plateformes modulaires et polyvalentes et à leurs platines motorisées de haute précision, ils peuvent accueillir des wafers jusqu'à 300 mm (12 pouces). Cette grande superficie permet une cartographie automatisée et haute résolution sur toute la surface du wafer, ce qui rend les systèmes HORIBA idéaux pour la recherche et le contrôle qualité en ligne dans la fabrication de semi-conducteurs.

Découvrez cette technologie grâce à nos ressources :

Note d'application (en anglais) : Spectroscopic characterization and detection of yield-killing defects in micro-LED wafers

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La haute sensibilité NIR

Les spectromètres Raman HORIBA offrent une sensibilité NIR élevée afin de minimiser la fluorescence et permettent une analyse plus approfondie et non destructive, idéale pour les échantillons difficiles dans les domaines des sciences de la vie, des polymères et du patrimoine culturel.

MacroRAM Affordable Benchtop Raman Spectrometer

Ceci est rendu possible grâce à différents composants matériels qui fonctionnent ensemble pour fournir des signaux Raman puissants, même dans des conditions de faible luminosité ou de bruit de fond élevé. En réduisant le bruit et en améliorant la qualité du signal dans le domaine du proche infrarouge, les systèmes HORIBA fournissent des spectres clairs et fiables pour des applications où le Raman standard rencontre souvent des difficultés, telles que l'analyse de tissus biologiques, d'encres anciennes ou de matériaux fluorescents.

Découvrez cette technologie grâce à nos ressources :

Note d'application (en anglais) : Quantitative Analysis of Common Components in a Chemical Mechanical Polishing (CMP) Slurry Using Raman Spectroscopy

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La microscopie corrélative collaborative

La microscopie Raman et la microscopie électronique à balayage (MEB) sont des techniques complémentaires pour la caractérisation d'échantillons complexes.

Le nanoGPS navYX breveté par HORIBA est une solution polyvalente, rapide et abordable qui permet de relocaliser les points d'intérêt d'un échantillon avec une précision micrométrique, même dans des laboratoires éloignés.
Associé au logiciel de microscopie corrélative graphYX, il offre une solution complète pour la caractérisation des micro et nanomatériaux, l'édition de cartographies multimodales et facilite le travail collaboratif grâce à un flux de travail traçable.

Découvrez cette technologie sur la page dédiée à nos solutions de microscopie corrélative collaborative.

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HORIBA, un partenaire fiable pour toutes vos activités

Fort d'une solide expertise en spectroscopie Raman, HORIBA est reconnu comme un partenaire fiable à travers le monde, offrant un soutien et des ressources inégalés pour aider les utilisateurs à atteindre leurs objectifs.

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