Medição rápida da espessura de revestimentos metálicos finos por Micro-XRF

A natureza penetrante da análise EDXRF permite que amostras multicamadas sejam caracterizadas com uma única medição. Com alta resolução espacial, até mesmo características microscópicas, como as áreas de contato em placas de circuito impresso, podem ser analisadas quanto à composição e espessura das camadas.