Grades planas holográficas com perfil denteado

Capacidade de projeto e produção de grades OEM

HORIBA produz uma ampla gama de grades mestras holográficas a partir das quais são fabricadas réplicas de alta precisão.
Uma grade de difração holográfica plana com perfil denteado é a escolha ideal para espectroscopia de alta resolução e aplicações onde alta eficiência e baixos níveis de luz espúria são de extrema importância.

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Segmento: Científico

Divisão:Grades de difração para OEMs industriais e pesquisa científica

Fabricante: HORIBA France SAS

Réplicas de grades holográficas obtidas a partir de grades mestras com perfil de brilho otimizado.
Periodicidade perfeita e excelente microrrugosidade.
Eliminação de fantasmas e baixa dispersão de luz.
Materiais de substrato: Sílica fundida, Zerodur, Pyrex…
Ampla gama de densidades de ranhuras: de 600 a 2400 gr/mm
Ampla faixa espectral: do UV ao NIR
Dimensões disponíveis: diversas referências até 120x140x20mm
Revestimento: Alumínio.

Figura 1: Perfil de ranhura triangular gravado holograficamente e gravado por íons

Gestão e Qualidade do Produto

Certificado ISO 9001 e ISO 14001
Rastreabilidade exclusiva com marcação a laser.
Metrologia de última geração
Produtos isentos de ITAR
Armazenamento de grades mestras em sala limpa
Produtos em conformidade com RoHS/REACH

Orientação para o cliente e confidencialidade

Confidencialidade total com acordo de confidencialidade mútuo.
Encomendas em grande escala para grandes quantidades anuais
Relacionamento de longo prazo com co-criação
Três instalações de produção

Frequências de ranhura variando de 600 a 2400 g/mm
Faixas espectrais: de 190 a 1750 nm
Eficiência de difração otimizada para UV, Vis ou NIR.
Dimensões: de 25 x 25 mm a 120 x 140 mm
Para clientes que necessitam de dimensões maiores, HORIBA pode gravar um molde holográfico personalizado especificamente para replicação.

Figura 2: Curvas de eficiência típicas* para 530 13, 2400 l/mm, 190-700 nm

*Estas curvas de eficiência representam eficiências teóricas absolutas, calculadas utilizando a teoria eletromagnética rigorosa, levando em consideração os perfis reais dos sulcos das grades fabricadas, medidos com um microscópio de força atômica (AFM).