Si Stress

Análise automatizada de tensão em silício

Análise automatizada de tensão em silício para aplicações industriais, de pesquisa e de testes de qualidade em silício microcristalino.

A espectroscopia Raman é uma das ferramentas mais importantes para investigar as propriedades básicas dos semicondutores. Ela é particularmente eficaz para determinar as características de células fotovoltaicas e dispositivos microeletrônicos.
A tensão e a deformação mecânicas podem ser detectadas analisando-se o deslocamento espectral da posição da banda, permitindo assim a quantificação da tensão de tração e compressão.

O aplicativo Si Stress integra o pacote de software LabSpec6 para análise automatizada de tensões em silício microcristalino, com relatórios de análise otimizados.

Confira nossa Central de Recursos em Vídeo do LabSpec 6 para dominar completamente o seu software de espectroscopia LabSpec 6!