A fluorescência de raios X em linha (XRF) é uma técnica analítica não destrutiva usada diretamente na linha de produção para medir a composição elementar dos materiais em tempo real. Ao integrar a XRF à linha de processo, os fabricantes podem alcançar qualidade consistente, melhorar a eficiência da produção e responder rapidamente a variações na espessura ou composição do revestimento.
Com a medição de fluorescência de raios X em linha, é possível determinar com precisão a espessura do material ou a carga de elementos em tempo real durante a produção, eliminando a necessidade de remover os produtos para análises laboratoriais demoradas.
A XRF oferece uma solução não destrutiva. Não requer preparação da amostra.
A medição direta na linha de produção com o monitor XRF em linha permite análises 24 horas por dia, 7 dias por semana.
Além disso, a vida útil do tubo de raios X é de aproximadamente 10.000 horas.
Vários monitores XRF podem ser instalados em cada linha de produção, com todos os dados de análise exibidos em um único painel.
Não é necessário tempo adicional para coletar dados de análise individuais.
HORIBA desenvolveu seu sistema de monitoramento XRF em linha especialmente para processos contínuos rolo a rolo (R2R). Monitore e analise os processos de revestimento diretamente em linha e em tempo real para garantir as propriedades corretas do material. Aproveite os mais de 50 anos de experiência HORIBA em Fluorescência de Raios X (XRF).
Casos de uso:
Nossa solução de monitoramento XRF em linha também é perfeitamente adequada para uso na produção de baterias–entre em contato conosco para obter mais informações.
Com o monitor de revestimento catalítico XV-100 CCM/MEA, HORIBA oferece uma solução dedicada especificamente a aplicações em células a combustível e eletrolisadores.
Durante a produção de células a combustível, mesmo pequenas imprecisões no material utilizado na camada catalítica podem levar a um desempenho insatisfatório da célula e a custos elevados, visto que o material das membranas e da tinta de revestimento catalítico representa quase 80% do custo total da unidade membrana-eletrodo finalizada. A análise por fluorescência de raios X em linha (XRF) fornece dados em tempo real que permitem otimizar esse processo produtivo. Caso uma camada seja depositada com espessura excessiva ou insuficiente, o processo pode ser ajustado imediatamente.
Monitor de revestimento catalítico CCM/MEA
As unidades XRF vêm equipadas com um microcomputador para operação estável sem a necessidade de um PC. Várias unidades XRF, bem como dispositivos de terceiros (como revestidores), podem ser sincronizadas e medidas. O sistema pode ser conectado à rede industrial do cliente por meio de um CLP (Controlador Lógico Programável) ou PC. Uma tela sensível ao toque e um PC para manutenção completam a configuração.
Principais características:
Nosso pacote de software de controle de processos altamente modular e plugável facilita a integração e a personalização em processos de produção. Essa integração permite respostas dinâmicas, como o redirecionamento automático de membranas durante o processo de revestimento quando a unidade XRF identifica espessura insuficiente. Beneficie-se de um sistema perfeitamente integrado que aumenta a eficiência e a adaptabilidade em seu ambiente de produção.
Explore nosso sistema de monitoramento XRF em linha com dois tipos de sensores disponíveis, cada um oferecendo recursos exclusivos. Para versões personalizadas ou especificações detalhadas, entre em contato com nossa equipe.
Tipo de sensor padrãoA longa distância de trabalho (50 mm ou mais) permite o manuseio flexível mesmo de objetos que se movem para cima e para baixo. Além disso, suporta medições de alta velocidade (mínimo de 10 ms) e pode ser aplicada a diversos processos rolo a rolo, incluindo:
Tipo de sensor de transmissãoMedição de Absorção: Ao medir a absorção de raios X primários, é possível medir espessuras de filmes espessos que não podem ser medidas com o método padrão.
Aplicações típicas são:
Para obter detalhes completos e demonstrações de cada modelo, não hesite em nos contatar. Estamos prontos para fornecer soluções personalizadas que atendam às suas necessidades específicas.
| Princípio | Análise de fluorescência de raios X |
| Detector | detector de deriva de silício |
| elemento alvo do tubo de raios X | Rh, W, Ag |
| tensão de raios X | 15 – 50 KV |
| Corrente do tubo de raios X | 4 – 200 μA |
| Distância de trabalho | 5 – 150 mm (padrão) |
| Período de medição | 10 ms – 10 min |
| Interface de dados | MODBUS ® TCP, OPC UA TM |
*MODBUS é uma marca registrada da Schneider Electric USA Inc. OPC UA é uma marca comercial da OPC Foundation. Outras interfaces (EtherCAT, Profinet, etc.) estão disponíveis mediante personalização.
Você tem alguma dúvida ou solicitação? Utilize este formulário para entrar em contato com nossos especialistas.
A fluorescência de raios X em linha (XRF) é uma técnica analítica não destrutiva usada diretamente na linha de produção para medir a composição elementar dos materiais em tempo real. Ao integrar a XRF à linha de processo, os fabricantes podem alcançar qualidade consistente, melhorar a eficiência da produção e responder rapidamente a variações na espessura ou composição do revestimento.


