A configuração de microscópio invertido no eixo é ideal para amostras transparentes: permite o uso de objetivas de abertura numérica (AN) muito alta para imagens Raman confocal.
Existem duas configurações diferentes para o acoplamento óptico TERS: uma em transmissão e outra em reflexão. A configuração de reflexão pode ser dividida em configurações de acoplamento "superior" e "lateral", cada uma com suas próprias vantagens e desvantagens.
A configuração de microscópio invertido no eixo é ideal para amostras transparentes: permite o uso de objetivas de abertura numérica (AN) muito alta, incluindo objetivas de imersão em óleo, para imagens Raman confocal.
O espaço acima da amostra fica livre para experimentos de microscopia de sonda de varredura (SPM), incluindo microscopia de força atômica (AFM), microscopia de tunelamento de varredura (STM) e outros modos comuns de SPM, no ar, em líquido ou em ambientes especiais.
Essa configuração permite a obtenção simultânea de imagens SPM e Raman confocal e oferece o melhor desempenho espectroscópico para espalhamento Raman intensificado pela ponta (TERS) de amostras transparentes, utilizando uma polarização radial no feixe de laser.
A configuração vertical permite medições simultâneas de microscopia de sonda de varredura (SPM) e espectroscopia Raman ao usar pontas salientes e objetivas de alta abertura numérica (até 0,7 NA).
A configuração vertical permite medições simultâneas de microscopia de força atômica (SPM) e espectroscopia Raman (incluindo TERS) ao usar pontas salientes (pontas triangulares de AFM na extremidade do cantilever) e objetivas de alta abertura numérica (até 0,7 NA). Imagens de SPM com uma seleção mais ampla de sondas e imagens de microscopia confocal Raman com objetivas de altíssima abertura numérica (até 0,95 NA) também podem ser realizadas sequencialmente no mesmo local. Essa configuração é otimizada para medições colocalizadas de alta resolução em amostras opacas, mas também permite medições TERS com pontas salientes.
A iluminação oblíqua foi projetada para experimentos de Raman com intensificação de ponta (Tip-Enhanced Raman) utilizando uma grande variedade de sondas SPM em amostras opacas.
A iluminação oblíqua foi projetada para experimentos de Raman com intensificação de ponta (Tip-Enhanced Raman) utilizando uma grande variedade de sondas SPM em amostras opacas.
O sistema integra uma objetiva de alta abertura numérica (AN) e longa distância de trabalho (até 0,7 AN) em um ângulo ideal (60°). Isso permite que o feixe de laser incida na ponta com a orientação de polarização ideal para a amplificação TERS (polarização p) e garante a máxima eficiência de coleta, eliminando o sombreamento causado pela sonda de varredura em forma de cantilever.
Essa configuração é otimizada para TERS (imagem de campo próximo) em amostras opacas. Ela também permite a obtenção simultânea de imagens por AFM e Raman confocal; no entanto, a geometria limita inerentemente a resolução espacial de campo distante, que é melhor alcançada com a configuração vertical.
Configuração óptica multiportas para AFM-Raman e TERS:
Os sistemas HORIBA AFM-Raman oferecem a versatilidade de combinar essas diferentes configurações ópticas. Por exemplo, uma configuração de porta dupla com iluminação oblíqua otimizada para TERS e microscópio vertical para imagens espectroscópicas de campo distante de alta resolução oferece o melhor desempenho tanto para medições sequenciais colocalizadas quanto para TERS em amostras opacas.
Outro tipo de sistema de porta dupla com iluminação de cima para baixo e capacidade de inversão fornece uma plataforma para TERS e medições colocalizadas de amostras opacas e transparentes.
Por fim, uma configuração de três portas reúne todas as configurações possíveis em uma plataforma única, oferecendo o sistema mais versátil para recursos otimizados.
