Realize medições de refletância e transmitância de amplo espectro, do ultravioleta ao infravermelho próximo, com alta resolução espacial.
Ponto de luz branca focalizado em superfície especular por diversas objetivas.
(a) Mapa μ-T de uma amostra de mica, obtido com objetiva de 50x em torno do comprimento de onda de 695 nm. (b) Imagem óptica da área mapeada da amostra de mica.
Medição de microrrefletância usando uma objetiva. Reflexão capturada por uma objetiva.
Medição de microrrefletância usando uma objetiva. Imagens de um ponto de luz branca focado por uma objetiva de 10x, no substrato especular (acima) e em uma superfície dispersora de uma lâmina de MoS2 (abaixo).
| Espectrômetro e detectores | ||||
|---|---|---|---|---|
| Espectrômetros | MicroHR | iHR320 | iHR550 | |
| Fontes de excitação | Lâmpada de xenônio (200 nm – 2200 nm) | |||
| Lâmpada halógena de tungstênio (> 350 nm) | ||||
| Laser supercontínuo (> 400 nm) | ||||
| Faixa espectral (nm) 1 | 250 nm – 2200 nm | |||
| Grelhas recomendadas 2 | 1200 g/mm, 600 g/mm, 150 g/mm | |||
| Resolução espectral 3 (nm) | 0.39 | 0.18 | 0.1 | |
| Microscópio | |||||
|---|---|---|---|---|---|
| Objetivas de microscópio 4 | Ampliação | 10X | 50X | 100X | |
| Tamanho do ponto (acoplado à fibra) | < 50 μm | < 12 μm | < 6 μm | ||
| Tamanho do ponto (acoplado ao espaço livre) | < 10 μm | < 5 μm | < 2 μm | ||
| Etapa de Amostra | XYZ (Opções manual e motorizada disponíveis) – 75 x 50 mm; 100 x 100 mm; 150 x 150 mm; 300 x 300 mm | ||||
| Câmera de visão | Câmera de visão controlada por software incluída | ||||
1. Extensão para o infravermelho médio disponível mediante solicitação.
Outras 2 grades disponíveis mediante solicitação.
3. Com base em uma grade de 1200 linhas/mm a 500 nm e um CCD com pixel de 26 μm.
4. Recomenda-se o uso de objetivas refletoras ao trabalhar no ultravioleta ou ao utilizar múltiplas fontes que cubram uma ampla faixa espectral.
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