PLATO Series

フォトルミネッセンスマッピングシステム

フォトルミネッセンスマッピングシステム PLATO Seriesは、フォトルミネッセンス (PL) 法を用いた化合物ウェハ欠陥検査装置です。
励起レーザーと分光法の選択に応じてDUVからNIRのスペクトル特性を測定できます。 2~12インチウェハに対応しており、自動搬送に対応したオートローディングタイプもラインアップしています。 ライセンス制限のない専用ソフトウェアで汎用性の高いオペレーションが可能な装置です。ピーク波長、強度、膜厚、ウェハ反り等さまざまな測定パラメータから歩留まり改善へ貢献します。

事業セグメント: 半導体
製品分類: Metrology

特長:

  • 全自動フォトルミネッセンスマッピングシステム
  • 短期間のトレーニング-約90分以内の操作習得を実現
  • Stand-alone program (ライセンス制限無し)-測定データをオフライン閲覧・共有が可能
  • 複数台使用時、大幅な改造調整無しでの装置間バラつきや測定ムラを低減可能
  • MTBF > 1,000時間 / 連続稼働時間 > 95%
  • 2インチ、3インチ、4インチ、6インチ、8インチ、12インチ ウェハサイズに対応
  • HORIBAのグローバルに渡るサポート体制
  • PLATO-300ではFOUP、SMIF、およびオープンカセットが利用可能

 

ソフトウェア

  • Stand-alone programは、ライセンスキー付きで外部PCにインストール可能
  • 生データを用いたデータ再処理機能により再測定無しで波長範囲やピーク抽出条件を変更し再計算できる
  • テンプレートベースのExcel/CSVエクスポート機能搭載
  • 自動波長校正機能により長期安定性と再現性を担保
  • SECS/GEM, E84, GEM-300に対応
     

 

アプリケーション

GaN パワーデバイス

  • Al組成マップ
    - 266 nmパルスレーザー:標準装備
    - 213 nmパルスレーザー:オプション
     
  • BE/YL比マップ
    - GaNチャネルの結晶品質
    - 355 nm 励起用レーザー

 BE:バンド端発光 YL:黄色発光

 

VCSEL

  • 分布反射型光源
    - ハロゲンランプの光源劣化の影響を最小限に抑えるため、絶対鏡面反射鏡を用いて各測定ごとに照合を実施
     

 

InGaAsP & ガスセンサー

  • PL用励起レーザー
    - 連続波 532、785、980、1064 nm レーザー波長範囲
    -InGaAsアレイCCD 1.7:900-1700 nm
    -InGaAsアレイCCD 2.2:1200-2200 nm分光器のN2パージシステムにより、大気中の水蒸気の影響を最小限に抑制

 PL:フォトルミネッセンス

Light sourceUV213nm, 266nm, 325nm
VIS375nm, 405nm, 532nm
NIR980nm, 1064nm
Measurement ItemDBR MeasurementVisible range, NIR range
Bow Measurement10~1000um
Laser MarkingCE-CoC, CE-DoC, KCs, S-MarkSapphire, Si, GaAs
Wafer TransferRobot typeSingle-arm, Dual-arm
Cassette mapping sensor
Wafer sizeSEMI standard 2”, 3”, 4”, 6”, 8”, 12”
Cassette typeOpen Cassette, SMIF, FOUP
IdentificationWafer ID reader, Cassette ID reader
CertificationCE-CoC, CE-DoC, KCs, S-Mark
Etc.SECS/GEM

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