Análise não destrutiva de falhas em uma PEMFC comercial utilizando um micro-XRF com câmara superdimensionada.

Apresentamos uma análise não destrutiva de falhas em um conjunto de eletrodo de membrana (MEA) de grande porte de uma pilha PEMFC comercial, utilizando um micro-XRF HORIBA XGT-9000SL com uma câmara de capacidade extra grande. Graças à capacidade da câmara, realizamos com sucesso imagens elementares não destrutivas em uma área defeituosa sem cortar a amostra, e encontramos distribuições inesperadas de Fe, Ni, Mn e Cr dentro da área defeituosa, indicando que esses elementos estão presentes no MEA como resultado de uma possível degradação da placa bipolar.