XGT-9000SL

Microscópio Analítico de Raios X
com uma câmara super grande

Experiência definitiva em análise microscópica de grandes amostras sem comprometer a segurança.

  • Capacidade da câmara grande: 1030 mm x 950 mm x 500 mm [L x P x A]
  • Mapeamento de grandes áreas: até 350 mm x 350 mm
  • Proteção total contra exposição a raios X (em conformidade com as normas IEC61010-1 / JAIMAS0101-2001)
  • Tamanho do ponto <15 µm com uma sonda de ultra-alta intensidade sem comprometer a sensibilidade e a resolução espacial.
  • Detectores duplos para raios X fluorescentes e raios X de transmissão.
Segmento: Científico
Fabricante: HORIBA, Ltd.

Projetado para revolucionar a análise de grandes amostras e expandir suas aplicações.

A série XGT-9000SL possui uma câmara superdimensionada com capacidade de até 1030 mm x 950 mm x 500 mm [L x P x A] e inclui uma ampla plataforma de 500 mm x 500 mm. Esses recursos permitem aos usuários analisar até mesmo amostras de grandes dimensões, como pinturas, placas de circuito impresso extensas e discos de freio. É perfeita para manusear amostras grandes com facilidade e realizar análises elementares de forma não destrutiva. Além disso, é versátil o suficiente para acomodar múltiplas amostras de pequeno porte na plataforma, possibilitando análises sequenciais.

 


Detectores duplos para raios X fluorescentes e raios X de transmissão.

A série XGT-9000SL oferece dois tipos de detectores. Um deles é um detector de raios X fluorescente, que indica a distribuição elementar de uma amostra, e o outro é um detector de raios X de transmissão, que indica a estrutura interna da amostra. O XGT-9000SL pode obter os dois tipos de imagens da mesma área simultaneamente. Isso é especialmente útil para uma melhor compreensão de componentes eletrônicos, gemas (incluindo inclusões) e espécimes biológicos.

Obtenção simultânea de imagens elementares e de raios X por transmissão de uma placa de circuito impresso.
(Esquerda) Imagem em camadas elementares revelou uma matéria estranha presa sob o chip do circuito integrado. (Direita) Imagem de raios X por transmissão revelou vários vazios sob o chip do circuito integrado.

 


Proteja os usuários da exposição aos raios X com a câmara de proteção contra raios X.

O XGT-9000SL foi projetado com o mais alto nível de blindagem contra radiação de raios X (em conformidade com as normas IEC-61010-1 / JAIMAS0101-2001). Com sua 1) blindagem transparente, os usuários podem observar e monitorar facilmente a amostra na câmara durante a medição, sem comprometer a segurança. O sistema também inclui 2) um indicador de irradiação de raios X localizado no painel frontal, que alerta os usuários quando os raios X estão ativos. Além disso, o XGT-9000SL está equipado com 3) intertravamentos nas portas da câmara, impedindo qualquer irradiação de raios X caso o usuário abra a porta acidentalmente enquanto o sistema estiver em operação.

 


Diversas funções de segurança protegem suas preciosas amostras contra riscos de colisão.

Diversas funções de segurança são incorporadas para garantir a proteção de suas preciosas amostras:

  1. Cálculo da posição da plataforma: O software pode calcular a posição inicial segura com base em um valor de entrada da altura da amostra. Isso significa que a plataforma se moverá para cima e parará na posição ideal, minimizando o risco de colisões acidentais com a óptica ou outros componentes sensíveis.
  2. Sensor a laser: O sistema consegue detectar interferências das suas amostras com um sensor a laser e parar a plataforma antes que a amostra entre em contato com a óptica, mesmo que a altura da amostra inserida esteja incorreta.
  3. Trava de palco: A série XGT-9000SL vem equipada com um controlador de palco sofisticado que incorpora uma função de trava de segurança. Mesmo que um usuário opere o palco acidentalmente de forma incorreta, ele não ultrapassará a posição de segurança designada.

 


Software flexível e fácil de usar

O software da série XGT-9000SL possui uma interface altamente flexível e intuitiva. Ele exibe árvores de dados, imagens ópticas, resultados de espectro, a tabela periódica e resultados de mapeamento de forma clara e concisa. Os usuários também têm a flexibilidade de personalizar o layout da tela ou até mesmo exibir os resultados em vários monitores. Dessa forma, os usuários podem visualizar os resultados com mais clareza e aprimorar a análise de dados.

Além das funções padrão do software, módulos avançados podem ser adicionados ao pacote para proporcionar experiências de usuário mais completas.

  • Módulo FPM multicamadas: para medição de espessura com/sem amostras padrão.
  • Módulo RoHS: para triagem RoHS
  • Módulo de fila: para medições múltiplas automatizadas em modo autônomo.
  • Módulo de Detecção de Partículas: para análise de partículas e análise de colocalização.
  • Módulo LabSpec Link: para transferência de dados para o LabSpec 6 para análise multivariada.

 



Exemplos Aplicação

  • A micro-XRF revela os segredos da genialidade de Van Gogh.
  • Espectroscopias Raman e de fluorescência de raios X revelam os mistérios por trás da antiga arte japonesa.
  • Clique aqui para mais detalhes.

Informações básicas

Instrumento

Microscópio analítico de raios X com câmara supergrande
PrincípioEspectroscopia de fluorescência de raios X por dispersão de energia
Elementos detectáveisF (9)* - Am (95)
Tamanho da câmara disponível1030 mm (L) x 950 mm (P) x 500 mm (A)
Capacidade máxima de carga do palco10 kg
Área máxima de mapeamento350 mm x 350 mm em 500 mm x 500 mm


Observação de exemplo

Observação de imagem ópticaDuas câmeras de alta resolução
Imagem inteira
Imagem detalhada
5 milhões de pixels, Campo de visão: 350 mm x 350 mm
5 milhões de pixels, Campo de visão: 2,5 mm x 2,5 mm
Design ópticoObservação óptica e de raios X coaxial vertical
Iluminação/Observação da amostraIluminação superior, inferior e lateral / Campos claros e escuros


Gerador de raios X

PotênciaAté 50 W
TensãoAté 50 kV
AtualAté 1 mA
Material alvoRh


Tubo guia de raios X (Sonda)

Seleção do tamanho do ponto de sondagemÉ possível oferecer diversas combinações de sondas.
(por exemplo, podem ser escolhidas sondas de ultra-alta intensidade de 15 μm e sondas de ultra-alta intensidade de 100 μm)


Detectores

detector de fluorescência de raios XDetector de deriva de silício (SDD) sem nitrogênio líquido
Detector de transmissãoNaI (Tl)


Modo de operação

Ambiente de mediçãoVácuo parcial
Ambiente completo
Ele purga (opcional)*


Dimensão do instrumento (unidade principal)

Tamanho do instrumento1090 mm (L) x 1380 mm (P) x 1820 mm (A)
Massa pesoAproximadamente 550 kg
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