
A combinação da resolução espacial inovadora e da sensibilidade do XGT-5000 o torna o instrumento ideal para análises rápidas de componentes eletrônicos, seja para análise de elementos nocivos restritos (legislação WEEE/RoHS "livre de chumbo"), solução de problemas ou P&D. Com um tamanho de feixe de 10 µm, até mesmo os menores detalhes em uma placa de circuito impresso podem ser analisados com precisão, permitindo a identificação de contaminantes microscópicos, a localização de defeitos de fiação/soldagem e a verificação da composição elementar de peças e componentes. Além disso, a capacidade de mapeamento simultâneo por fluorescência de raios X (XRF) e transmissão de raios X permite a obtenção de informações sobre partes não visíveis a olho nu, como, por exemplo, circuitos encapsulados em plástico.
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