Caracterização de displays TFT-LCD usando elipsometria espectroscópica
Os dispositivos LCD consistem em um cristal líquido nemático intercalado entre duas placas de vidro. Em detalhes, primeiro uma placa de vidro é revestida com uma película transparente condutora de óxido metálico que atua como eletrodo. Em seguida, aplica-se uma camada de alinhamento de polímero. Quando um campo elétrico é aplicado entre os dois eletrodos, as moléculas de cristal líquido reagem de forma a controlar a passagem da luz.
A maioria dos monitores atualmente em uso emprega a tecnologia de tubo de raios catódicos (CRT), semelhante à utilizada na maioria dos televisores. A tecnologia CRT requer uma certa distância entre o dispositivo de projeção e a tela para funcionar. Utilizando outras tecnologias, os monitores podem ser muito mais finos e são conhecidos como monitores de tela plana.
As tecnologias de tela plana incluem diodo emissor de luz (LED), tela de cristal líquido (LCD) e plasma de gás. LEDs e plasma de gás funcionam iluminando posições na tela com base em voltagens em diferentes interseções da grade. Os LCDs são classificados como dispositivos de exibição não emissivos, pois não produzem nenhum tipo de luz. Os LCDs permitem a passagem ou bloqueiam a luz refletida de uma fonte de luz externa ou fornecida por um sistema de iluminação traseira/lateral. Os LCDs consomem muito menos energia do que os LEDs, e as tecnologias de plasma de gás são atualmente a principal tecnologia para notebooks e outros computadores portáteis.
Caracterização completa do dispositivo TFT-LCD:
A caracterização não destrutiva das diferentes partes do dispositivo TFT-LCD foi realizada com sucesso por elipsometria espectroscópica (SE). Os dados elipsométricos foram coletados em um ângulo de incidência de 70 ° usando o Jobin Yvon UVISEL NIR (260-1700 nm).
O elipsômetro espectroscópico de modulação de fase UVISEL é um instrumento único que oferece vantagens significativas para aplicações em displays quando comparado a elipsômetros convencionais. Sua tecnologia é a mais adequada para medições precisas de filmes finos em substratos transparentes, pois o software inclui recursos avançados para correção automática de reflexos na face posterior.
