CombiScope

AFM e microscopia de luz invertida

O Microscópio de Força Atômica (AFM) CombiScope é um instrumento de pesquisa avançado que oferece a porta de entrada para pesquisadores nas áreas de biologia, espectroscopia e fotônica. Se você trabalha com amostras transparentes, seja no ar ou em líquido, para investigar estruturas em nanoescala e propriedades nano-ópticas (de campo próximo), o CombiScope é a solução ideal. Ele combina perfeitamente microscopias óptica invertida e de força atômica, liberando todo o potencial de ambas as técnicas, proporcionando ajuste do instrumento e automação de medições, alta resolução e alta velocidade. Além disso, pode ser facilmente atualizado para nossos espectrômetros Raman.

Segmento: Científico

Divisão:AFM e AFM-Raman

Fabricante: HORIBA France SAS

Características
Especificações

Produtividade extraordinária e operação fácil.

CombiScope está equipado com um suporte de cantilever totalmente motorizado e um sistema de posicionamento por fotodiodo que permite o alinhamento automático do laser com a ponta, bastando um clique. Essa opção simplifica drasticamente todo o processo de ajuste do sistema e proporciona o mais alto nível de reprodutibilidade. Além disso, após a instalação de um novo cantilever, seja do mesmo tipo ou de um tipo diferente, o mesmo ponto (com repetibilidade de alguns mícrons) na superfície da amostra pode ser facilmente encontrado e escaneado sem etapas adicionais de busca.

Scanner de nível superior

O CombiScope utiliza o scanner piezo-nanoposicionador de 3 eixos, de alta dinâmica e circuito fechado, da Physik Instrumente (PI), líder em controle de movimento de precisão. Este scanner de última geração é o coração do sistema, permitindo alcançar altíssimos níveis de linearidade, rigidez máxima e movimentos de extrema precisão.

Laser AFM de 1300 nm

O uso de um laser AFM de 1300 nm elimina qualquer interferência com amostras biológicas e semicondutoras sensíveis à luz visível. Também possibilita a realização de medições simultâneas de AFM e fluorescência ou espalhamento Raman sem qualquer interferência entre elas, para a maioria dos lasers de excitação UV-VIS-NIR (364-830 nm) mais comuns.

Integração com óptica

Além de microscópios ópticos invertidos integrados, como o Nikon Eclipse Ti-U e o Olympus IX-71 com contraste de fase e DIC, o CombiScope pode ser equipado com uma cabeça que proporciona acesso óptico simultâneo pela parte superior e lateral, com objetivas planapocromáticas (100x, NA=0,7 e 10x, NA=0,28, respectivamente). Essa opção permite combinar as configurações vertical e de transmissão para estudar amostras transparentes e não transparentes com técnicas de microscopia óptica, Raman e de varredura por sonda.

Soluções para trabalhar em meio líquido

Os suportes de amostra padrão do CombiScope acomodam todos os substratos de amostra comuns, incluindo lâminas, lamínulas e placas de Petri de 35 mm. A célula de líquido especialmente projetada, com recursos de aquecimento e perfusão de líquido, permite que as amostras biológicas sejam mantidas delicadamente em seu ambiente fisiológico e a temperaturas de até 60 °C.

Todos os modos de operação em um único instrumento.

O CombiScope oferece todos os modos de operação modernos de AFM em um único instrumento, sem custos ou unidades adicionais, incluindo modos específicos para aplicações como nanolitografias de força e elétricas, microscopia de força piezoelétrica (PFM), microscopia de sonda Kelvin e AFM de modulação de frequência (microscopia de força dinâmica com PLL integrado). Além disso, estão disponíveis como opcionais a cabeça de microscopia de tunelamento de varredura (STM) e a unidade de AFM condutiva, operando na faixa de 100 fA a 10 µA (com subfaixas de 1 nA, 100 nA e 10 µA selecionáveis por software e ruído de corrente de 60 fA RMS para a subfaixa de 1 nA), e a cabeça de microscopia óptica de campo próximo (SNOM). Essa versatilidade excepcional torna o instrumento a solução perfeita para nanociência.

Modos de medição

AFM de contato no ar;
AFM de contato em líquido (opcional);
AFM semicontato no ar;
AFM semicontato em líquido (opcional);
AFM sem contato verdadeiro;
Microscopia de Força Dinâmica (DFM, FM-AFM);
Microscopia de Força de Dissipação;
Modo Superior;
Imagem de fase;
Microscopia de Força Lateral (LFM);
Modulação de força;
AFM condutivo (opcional);
Modo I-Top (opcional);
Microscopia de Força Magnética (MFM);
Sonda Kelvin (Microscopia de Potencial de Superfície);
Sonda Kelvin de passagem única;
Microscopia de capacitância (SCM)
Microscopia de Força Elétrica (EFM);
MFM/EFM de passagem única (“Varredura plana”);
Medições da curva de força;
Microscopia de Força de Resposta Piezoelétrica (PFM);
Modo PFM-Top;
Nanolitografia;
Nanomanipulação;
STM (opcional);
Mapeamento de fotocorrente (opcional);
Medições da característica volt-ampère (opcional).

Modos de medição em líquido com cabeçote AFM HE001 e célula de líquido

Contate a AFM;
AFM semicontato;
Modo superior;
Imagem de fase;
Microscopia de Força Lateral (LFM);
Modulação de força;
Medições da curva de força;
Nanolitografia;
Nanomanipulação.

Scanner e Base

Área de digitalização da amostra: 100 µm x 100 µm x 20 µm (±10%)
Tipo de varredura por amostra: Não linearidade XY 0,05%; Não linearidade Z 0,05%
Ruído: 0,1 nm RMS na dimensão XY em uma largura de banda de 100 Hz com os sensores de capacitância ligados; 0,02 nm RMS na dimensão XY em uma largura de banda de 100 Hz com os sensores de capacitância desligados; < 0,1 nm RMS no sensor de capacitância Z em uma largura de banda de 1000 Hz.
Frequência de ressonância: XY: 7 kHz (sem carga); Z: 15 kHz (sem carga)

Base

Posicionamento manual da amostra: alcance de 25x25mm, resolução de posicionamento de 1um;
Posicionamento da cabeça de medição SPM motorizada: 1,6x1,6mm, resolução de posicionamento de 1um;
Aproximação motorizada: 1,3 mm;
Suporte para amostras de lâminas padrão e lamínulas;
Suporte de amostra opcional: Tamanho máximo da amostra: 50,8 x 50,8 mm, 5 mm de altura, com possibilidade de selecionar uma área de medição de 25 x 25 mm em qualquer quadrante da área de 50,8 x 50,8 mm ou no centro da amostra.

Cabeçote AFM HE001

Comprimento de onda do laser: 1300 nm;
O laser de registro não influencia a amostra biológica;
O laser de registro não influencia as medições fotovoltaicas.
Ruído do sistema de registro: <0,03nm.
Totalmente motorizado: 4 motores de passo para alinhamento automático do braço cantilever e do fotodiodo.
Acesso livre à sonda para manipuladores e sondas externas adicionais;
Acesso óptico simultâneo superior e lateral: objetivas planapocromáticas de 10x, NA=0,28 e 20x, NA=0,42, respectivamente.

Célula líquida (opcional)

Posicionamento manual da amostra: alcance de 15x15mm, resolução de posicionamento de 1um;
Suporte para placa de Petri com 35 mm de diâmetro;
Volume de líquido: 1,5-2,5 ml;
Sistema de fluxo contínuo para troca de líquidos: dois tubos.

Unidade AFM condutiva (opcional)

Faixa de corrente: 100fA ÷ 10uA;
3 faixas de corrente (1nA, 100nA e 10uA) selecionáveis por programa;
Faixa de tensão: -10 ÷ +7V;
Ruído de corrente RMS: inferior a 60 fA para a faixa de 1 nA.

Compatibilidade com microscópios ópticos invertidos

O laser infravermelho não interfere na formação de imagens ópticas;
Capacidade de instalação em:
Nikon Ti-E, Ti-U, Ti-S, TE2000;
Olympus IX-71, IX-81;
Contraste de fase, DIC e técnicas de fluorescência com condensador óptico nativo;
Possibilidade de atualização para a plataforma TRIOS para operação espectroscópica e TERS.

Microscópio óptico para operação independente (opcional)

Abertura numérica: até 0,1;
Ampliação em monitor de 19" com CCD de 1/3": de 85x a 1050x.
Campo de visão horizontal: de 4,5 a 0,37 mm
Zoom manual com detentores: 12,5x
Suporte e unidade de foco grosso/fino.
Capacidade de usar objetivas planapocromáticas: 10x, NA=0,28 e 20x, NA=0,42 e 100x, NA=0,7 (dependendo da cabeça do AFM);

Software

Alinhamento automático do sistema de registro;
Configuração e pré-ajuste automáticos para técnicas de medição padrão;
Ajuste automático da frequência de ressonância do cantilever;
Capacidade de trabalhar com curvas de força;
Lua é uma linguagem de macros para programação de funções, scripts e widgets definidos pelo usuário;
Capacidade de programar o controlador com linguagem macro DSP em tempo real sem recarregar o software de controle;
Capacidade de processar imagens no espaço de coordenadas, incluindo a criação de cortes transversais, ajustes e suavização polinomial de até 8º grau;
Processamento FFT com capacidade de tratar imagens no espaço de frequência, incluindo filtragem e análise;
Nanolitografia e nanomanipulação;
Processamento de imagens de até 5000x5000 pixels.