Elipsometria

Elipsometria Espectroscópica

A técnica mais adequada para a caracterização de filmes finos

A elipsometria espectroscópica é uma técnica óptica não destrutiva, não intrusiva e sensível à superfície, amplamente utilizada para a caracterização de camadas finas e superfícies. Ela se baseia simplesmente na mudança do estado de polarização da luz ao ser refletida obliquamente por uma amostra de filme fino. Dependendo do tipo de material, os elipsômetros espectroscópicos podem medir espessuras de alguns Å a dezenas de micrômetros. É também uma excelente técnica para a medição de múltiplas camadas.

A elipsometria espectroscópica permite caracterizar uma série de propriedades de filmes finos, como espessura da camada, propriedades ópticas (n,k), gap de banda óptica, espessura da interface e rugosidade, composição do filme, uniformidade em profundidade e área, e muito mais.

Os materiais adequados para elipsometria espectroscópica incluem semicondutores, dielétricos, polímeros, compostos orgânicos e metais. A elipsometria também pode ser usada para estudar interfaces sólido-líquido ou líquido-líquido.

Os elipsômetros espectroscópicos HORIBA utilizam tecnologia inovadora para realizar medições de modulação de polarização de alta frequência sem qualquer movimento mecânico, proporcionando assim uma caracterização mais rápida, de maior alcance e com maior precisão em comparação com os elipsômetros convencionais.

Vídeos e Webinários

Saiba mais sobre elipsometria espectroscópica assistindo a vídeos educativos e descubra algumas das aplicações com nossa coleção de webinars.

Treinamentos

Nossos instrutores são especialistas em elipsometria espectroscópica. Eles fornecerão treinamento, aconselhamento e orientação para que você aproveite ao máximo seu instrumento HORIBA.
Você ganhará confiança e experiência na análise de suas amostras.

Tecnologia e Perguntas Frequentes

A elipsometria espectroscópica é uma técnica óptica não destrutiva, sem contato e não invasiva, baseada na mudança do estado de polarização da luz ao ser refletida obliquamente por uma amostra de filme fino. Saiba mais sobre essa técnica nas páginas de Tecnologia.

Apresentou

Webinar gravado: Fundamentos da elipsometria: uma poderosa técnica de caracterização de filmes finos

A elipsometria é uma técnica de caracterização de filmes finos bem conhecida, embora por vezes pouco compreendida. Baseada na polarização da luz e na determinação indireta de parâmetros, a elipsometria permite obter informações sobre a espessura e parâmetros ópticos de filmes finos, rugosidade, porosidade e até mesmo composição de camadas simples e estruturas complexas. Muito útil nas áreas de semicondutores, células fotovoltaicas, revestimentos ópticos e em todas as aplicações que utilizam filmes finos, a elipsometria atingiu, há alguns anos, uma maturidade instrumental que permite o seu uso por profissionais não especializados. Venha (re)descobrir os fundamentos desta poderosa técnica para as suas necessidades de caracterização de materiais!

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Studying perovskite solar cells with HORIBA Scientific equipment

Estudo de células solares de perovskita com equipamentos HORIBA

Com uma eficiência de aproximadamente 20%, as células solares de perovskita híbrida são as novas candidatas promissoras para a próxima geração de energia fotovoltaica. Graças ao amplo portfólio HORIBA, diferentes técnicas podem ser utilizadas para obter um conhecimento aprofundado sobre as propriedades e os mecanismos optoeletrônicos dessa classe de materiais. Nesta nota de aplicação_, optamos por utilizar elipsometria espectroscópica, fluorescência em estado estacionário e resolvida no tempo, e espectroscopia de emissão óptica por descarga luminescente para investigar as propriedades de filmes finos de _{CH₃NH₃PbI₃} depositados sobre PEDOT: _PSS por spin-coating. O impacto da exposição ao ar também foi avaliado.