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GD Profiler 2 GDOES Brochure
GD-OES 软件
Quantum 和Image
HORIBA Scientific仪器配套软件的Quantum™ 具有多种算法，可提供浓度与深度曲线、用于跟踪在线 SPC设备的生产；Time Plus 功能，可在需要时增加分析时间；以及备受好评的等离子清洁功能（已发表论文），可在测量前清洁样品表面。
专利Image 内置在单色仪上，不到 2 分钟即可记录任何体材样品或层样品（超过 1 微米）的完整发射光谱， 并且具有高分辨率和高动态范围（ HDD 检测）。
Quantum软件具有多任务和多语言中心，控制仪器的所有功能（包括控制多色仪和单色仪，管理获得专利的 PolyscanTM 脉冲操作等），还可安装在其他计算机上以仿真模式进行数据处理。
强大而灵活的数据处理能力，具有 Time Plus（增加测量过程中的分析时间）、UFS模式，以增强聚合物的腐蚀和具有多个采集频率的测量。实时显示采集、快速处理选项（包括多重平滑）、界面自动确定、趋势计算和图像导出、灵活生成以ascii 或 xls格式的文件 。
创建任务对多个原始的测试结果应用一样的处理方式，以覆盖和比较多个结果。
所有原始数据允许灵活再处理，批量显示深度剖析结果，在程序中可以使用多层样品或块体样品进行表面测量和深度剖析。
IQ
智能定量模型，包括遵循 ISO 标准的溅射速率模式和用于高级材料的层模式。浓度测量（以 At%、M% 与深度、涂层重量、层厚度），2D/3D 相关坑道剖面。
Image
单色仪在扫描模式下使用时（步长为每皮米），得到的结果称为“Image”，材料的整个发射光谱具有高光谱分辨率并且使用HDD信号不会出现饱和。获取体材和厚膜（薄膜使用脉冲操作测试）的完整指纹仅需两分钟，通过对比“Image”和数据库识别样品可能存在的元素。
操作系统：Windows 10
语言：多种语言可选
显示：实时显示和记录分布
分析支持：
Time Plus和等离子体清洁
内置定量算法
元素谱线数据库、可能的干扰、相对溅射速率
软件可安装在多个计算机上，轻松导出/导入分析信息。
报告：灵活的报告生成模式
软件控制：控制所有操作参数并提供远程控制及技术支持
