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モジュール型蛍光分光測定装置 Nanolog
| 項目 | 仕様 |
|---|---|
| 励起光源 | 空冷ハウジング内に垂直に装着された450Ｗ Xeショートアークランプを使用 全波長で最大の効果が得られるミラーによる集光 オプションでりん光用Xeフラッシュランプの搭載も可能 |
| 光学系 | 全反射型（微小サンプルでも全波長でフォーカシング可能でかつ正確なイメージングが可能） |
| 分光器 | グレーティングおよび反射光学系を採用したツェルニィ・ターナーマウント シングル分光器またはダブル分光器を選択可能スリットは連続的に調整可能 （バンドパス ： 0-30 nm（シングルグレーティング）、0-15 nm（ダブルグレーティング）） グレーティングは最適な仕様のものに交換可能 |
| 試料室 | はめ込み型の各種サンプル試料台アセンブリーに対応 リアルタイム励起光補正用検出器付 第二蛍光検出チャンネルの使用を可能にするＴ型配置光学系を拡張可能 試料台は取り外し可能、 表面測光光学系を搭載可能 |
| 検出器 | ■励起側 200-980 nm対応 励起リファレンス補正用フォトダイオード ■発光側 発光計測用はPMT、フォトダイオード、アレイ検出器など搭載可能  |
| スリット幅 | コンピュータ制御による自動連続開閉可能。バンドパス範囲 0〜30 nm |
| 環境温度 | 15-30℃ |
| 最大湿度 | 75% |
| 電気系 | 5A,100V（日本標準仕様), 50Hz |
りん光測定モード
| 励起光源 | UVキセノンフラッシュランプ |
| フラッシュレイト | 0.05-33 Hz |
| フラッシュ後ディレイ | 50 μs〜10s±1 μs（1 μsステップサイズで） |
