Search
English
HORIBAグループ企業情報
Japan
製品情報
ラマン分光
Raman Analytical Solutions
Raman Building Blocks
製品ラインアップ
アクセサリー一覧
ソフトウェア
ラマン分光法の応用例
ナノイメージング
リアルタイムモニタリング
定量分析
複合分析
粒子解析
大気非暴露測定
カタログ・アプリケーション
Raman Academy
蛍光分光・蛍光寿命
蛍光&吸光分析「A-TEEM」
高感度蛍光分光
蛍光寿命分析
Fluorescence Microscopy
製品ラインアップ
Aqualog
DeltaFlex
DeltaPro
Duetta
FLIMera
Fluorolog-QM
FluoroMax
Nanolog
Photon Counting Detector
SpectraLED
アクセサリ一覧
蛍光X線分析 (XRF)
蛍光X線分析（XRF）でできること
製品ラインアップ
X線分析顕微鏡
蛍光X線分析装置
蛍光X線硫黄分析装置
異物分析
カタログ・アプリケーション
EMIA-Pro | C/S Analyzer
XGT-9000SL | X-ray Analytical Microscope Super Large Chamber Model
EMIA-Pro | C/S Analyzer
EMIA-Pro | C/S Analyzer
マーカス型高周波グロー放電発光表面分析（GD-OES）
製品特長
製品ラインアップ
活用事例
表面分析としての活用事例
顕微鏡用前処理としての活用事例
バルク分析としての活用事例
rf-GD-OES法と他の分析手法の比較
カタログ・アプリケーション
GD-Profiler 2
ICP発光分析
Ultima Expert
Ultima Expert LT
炭素・硫黄分析/酸素・窒素・水素分析
製品ラインアップ
炭素・硫黄分析装置・ 酸素・窒素・水素分析装置の全自動化
カタログ・アプリケーション
分析レシピ集
EMIA-Pro | C/S Analyzer
EMIA-Expert | C/S Analyzer
EMIA-Step | C/S Analyzer
EMIA-Pro | C/S Analyzer
EMGA-920 | O/N Analyzer
EMGA-921 | H Analyzer
EMGA-930 | O/N/H Analyzer
粒子計測
Particle Size
Particle Shape
Zeta Potential
Surface Area
Particle Concentration
製品ラインアップ
Partica LA-960V2
Partica mini LA-350
ViewSizer 3000
nanoPartica SZ-100V2 Series
Eyecon2™
PSA300
SA-9600 Series
粒子・粉体分析においてたとえばこんな条件でも測定ができます！
粒子の凝集評価
粒子径の乾式分析
粒子画像解析
粒度分布計用オートサンプラ
分散媒量の削減
ゲル分析
粒子個数分析
カタログ・アプリケーション
フォトルミネッセンス
カソードルミネッセンス
オプティカルコンポーネント
HORIBA分光器の特徴
豊富な分光器・グレーティングのカスタマイズと量産の実績
近赤外・SWIR用の分光器
紫外・可視の分光器
検出エレクトロニクスのカスタマイズで多機能分光システムの実現が可能
OCTに適した分光器① ～OCT(光干渉断層撮影）とは～
OCTに適した分光器② ～SD-OCTとSS-OCTについて～
OCTに適した分光器③ ～分光器の選定、性能のトレードオフ～
分光器・分光器システム
OCT用分光器
半導体プラズマモニタ用分光器
真空紫外分光器
ガス計測モジュール
赤外線(IR)フィルター
回折格子（グレーティング）
OEMグレーティング（回折格子）
カスタム（特注）回折格子（グレーティング）
Browse Products
Miniature Spectrometers
Mini Raman Spectrometers
Multispectra Spectrometers
OES Spectrometers
UV-Vis-NIR Spectrometers
表面プラズモン共鳴イメージング（SPRi）
製品ラインアップ
カタログ・アプリケーション
OpenPleX
SPRi-Arrayer
分光エリプソメトリー
UVISEL Plus
Auto SE
Smart SE
製品ラインアップ
カタログ・アプリケーション
旋光計
犯罪捜査用光源
Forensics Light Sources
RUVIS
Imaging
AFIS
Goggles & Camera Filters
Browse Products
CrimeScope CS-16-500W | Forensic Light Source
FOCUS LED Alternate | Forensic Light Source
Mini-CrimeScope Advance | Forensic Light Source
SceneScope RUVIS UHD | Imaging System
Universal Imaging System
PrintQuest
アプリケーション
自動車分析ソリューション
軽量化
車両用電子部品
接着／接合
腐食・トライボロジー
車内環境
工程管理
完成車向け評価
半導体材料分析ソリューション
膜厚・膜質
応力分析
深さ方向元素組成分析
欠陥評価
CMPスラリー分析
キャリア寿命分析
異物検出・分析
先端材料
バイオ・ライフサイエンス
細胞・生体試料・菌類の測定
低分子医薬品（製剤）の分析
DDS製剤評価
抗体医薬品の分析
化粧品の分析
GMP規制・CSV対応サポート
エネルギー材料分析・評価のトータルソリューション
リチウムイオン電池
燃料電池
太陽電池
触媒評価
技術情報
ラマン分光
粒子計測
粒子測定の基礎知識
なぜ粒子径が重要なのか？
粒子径とは？
粒度分布とは？
粒子径基準
粒度分布計の種類と特長
光散乱と粒子径
レーザー回折/散乱法
動的光散乱法（DLS）
遠心沈降法
粒子軌跡解析法（PTA）
粒子特性分析
ゲル分析
ゼータ電位
分子量
粒度分布測定におけるポイント
動画で学ぶ粒度分布の基礎
技術情報
粒子径ごとに分けて測る、高分解能の粒度分布
高濃度での粒度分布測定
カーボンナノチューブ分散水溶液の評価手法
粒度分布測定はなぜ難しいか
光で「粉」の大きさをはかる技術
蛍光X線分析 (XRF)
炭素・硫黄分析/酸素・窒素・水素分析
マーカス型高周波グロー放電発光表面分析（GD-OES）
分光エリプソメトリー
蛍光分光・蛍光寿命
カソードルミネッセンス
分光分析
表面プラズモン共鳴イメージング（SPRi）
カスタマイズ事例
インライン・オンライン分析
合成反応のリアルタイムモニタリング
めっき液中の元素濃度モニタリング
Roll to Rollのコーティング膜厚連続測定
重質油中硫黄成分のインライン測定
Roll to Roll 生産工程でin-line膜厚・組成分析
測定専用化カスタマイズ
希釈せずに粒子径分布を測定
ゲル材料網目構造を評価
大気非暴露で酸素濃度を分析
粉末試料の容易な分散前処理
大きな試料をそのまま元素分析
高温での蛍光体発光特性評価
分析作業効率化
有機材料の生産管理を効率化
大気非暴露で軽元素の深さ方向分布評価
多検体の粒子径測定の自動化
錠剤中の薬効成分の迅速定量
効率的かつ安全に軽元素を定量
鉄鋼・非鉄金属・電子材料に含有する酸素・窒素分析
粒子径分布測定装置における分散剤添加溶媒の使用量削減
粉末粒子径自動分析
組み合わせ測定
蛍光＋吸光スペクトルを高速取得
電顕画像＋CL画像で結晶性評価
粒度分布＋画像で粗大粒子の要因判別
AFM＋ラマンで高空間分解能マッピング
微粒子状物質（PM）の質量濃度と元素分析の同時測定
ニュース
新着情報
セミナー情報
分析原理セミナーアーカイブ
サポート
海外のグループ会社・拠点
受託分析・試験サービス
販売終了製品と推奨代替製品のお知らせ
お問い合わせ
国・地域
変更
お問い合わせ
拠点情報
アプリケーション
アプリケーション
