Applications

Characterization of photovoltaic devices

by Spectroscopic Ellipsometry

This application illustrates the ability of the technique to characteriza photovolatic devices. The materials commonly studied include: amorphous silicon, poly silicon, ZnO, ITO, SNO2, TiO2, SiNx, MgO, etc...

Related Products

UVISEL Plus
UVISEL Plus

Spectroscopic Ellipsometer from FUV to NIR: 190 to 2100 nm

Запросить информацию

У вас есть вопросы или пожелания? Используйте эту форму, чтобы связаться с нашими специалистами.

* Эти поля обязательны для заполнения.

Corporate