Aplicações

Análise AFM-Raman colocalizada de grafeno

Caracterização topográfica, elétrica e química verdadeiramente colocalizada de flocos de grafeno esfoliados

Análise AFM-Raman colocalizada de grafeno

Esta nota de aplicação relata medições AFM-Raman colocalizadas de flocos de grafeno esfoliados em SiO₂ /Si. Dados topográficos, de diferença de potencial de contato e Raman são obtidos no mesmo local com a mesma ponta usando um microscópio AFM-Raman totalmente integrado, o novo SignatureSPM.

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