Scanner e base SmartSPM

Área de digitalização da amostra: 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10%)

Tipo de varredura por amostra: Não linearidade XY 0,05%; Não linearidade Z 0,05%

Ruído: 0,1 nm RMS na dimensão XY em uma largura de banda de 200 Hz com os sensores de capacitância ligados; 0,02 nm RMS na dimensão XY em uma largura de banda de 100 Hz com os sensores de capacitância desligados; < 0,04 nm RMS no sensor de capacitância Z em uma largura de banda de 1000 Hz.

Frequência de ressonância: XY: 7 kHz (sem carga); Z: 15 kHz (sem carga)

Movimento X, Y, Z: Controle digital em malha fechada para os eixos X, Y e Z; Alcance de aproximação motorizada em Z de 18 mm

Dimensões da amostra: Máximo 40 x 50 mm, 15 mm de espessura.

Posicionamento da amostra: Faixa de posicionamento motorizada da amostra de 5 x 5 mm

Resolução de posicionamento: 1 µm

Cabeça AFM

Comprimento de onda do laser: 1300 nm, não interfere com detectores espectroscópicos.

Alinhamento: Alinhamento totalmente automatizado de cantilever e fotodiodo.

Acesso à sonda: Acesso livre à sonda para manipuladores e sondas externas adicionais.

Modos de medição SPM

Microscopia de Força Atômica (AFM) de contato no ar/(líquido opcional); Microscopia de Força Atômica (AFM) semicontato no ar/(líquido opcional); Microscopia de Força Atômica (AFM) sem contato; Imagem de fase; Microscopia de Força Lateral (LFM); Modulação de força; Microscopia de Força Atômica Condutiva (opcional); Microscopia de Força Magnética (MFM); Sonda Kelvin (Microscopia de Potencial de Superfície, SKM, KPFM); Microscopia de Força Capacitiva e Elétrica (EFM); Medição de curva de força; Microscopia de Força de Resposta Piezoelétrica (PFM); Nanolitografia; Nanomanipulação; Microscopia de Tunelamento de Varredura (STM) (opcional); Mapeamento de fotocorrente (opcional); Medições de características volt-ampère (opcional)

Modos de espectroscopia

Imagem e espectroscopia confocal Raman, de fluorescência e de fotoluminescência

Espectroscopia Raman com intensificação de ponta (TERS) nos modos AFM, STM e de força de cisalhamento

Fotoluminescência aprimorada pela ponta (TEPL)

Microscopia e Espectroscopia Óptica de Varredura de Campo Próximo (NSOM/SNOM)

Unidade AFM condutiva (opcional)

Faixa de corrente: 100 fA ÷ 10 µA; 3 faixas de corrente (1 nA, 100 nA e 10 µA) selecionáveis por software.

Acesso Óptico

Capacidade de usar simultaneamente objetivas apocromáticas de plano superior e lateral: até 100x, NA = 0,7 pelo plano superior ou lateral; até 20x e 100x simultaneamente.

Scanner piezoelétrico de circuito fechado para alinhamento espectroscópico a laser ultraestável de longo prazo: Área de medição: 20 µm x 20 µm x 15 µm; Resolução: 1 nm

Espectrômetro

Espectrômetros micro-raman compactos XploRA Plus totalmente automatizados, funcionais como microscópios micro-Raman independentes.

Faixa de comprimento de onda: 60 ^cm⁻¹ a 4000 ^cm⁻¹ 

Grades: 4 grades em torre controlada por computador (600, 1200, 1800 e 2400 g/mm)

Automação: Operação totalmente motorizada e controlada por software.

Detecção

Gama completa de detectores CCD e EMCCD.

Fontes de laser

Comprimento de onda típico: 532 nm, 638 nm, 785 nm.

Automação: Operação totalmente motorizada e controlada por software.

Software

Pacote de software integrado incluindo SPM completo, controle de espectrômetro e aquisição de dados, conjunto de ferramentas para análise e processamento de dados espectroscópicos e SPM, incluindo ajuste espectral, deconvolução e filtragem; módulos opcionais incluem conjunto de ferramentas para análise univariada e multivariada (PCA, MCR, HCA, DCA), detecção de partículas e funcionalidades de busca espectral.