Microscópio de varredura por sonda com assinatura química
SignatureSPM é o primeiro microscópio construído sobre uma plataforma de caracterização multimodal, integrando um Microscópio de Força Atômica (AFM) automatizado com um espectrômetro Raman/Fotoluminescência, permitindo medições verdadeiramente colocalizadas de propriedades físicas e químicas.
Através do conhecimento físico e químico combinado, obtido em uma única medição em tempo real, o pesquisador pode obter uma análise confiável e abrangente da amostra, com um tempo de conhecimento reduzido devido ao menor manuseio da amostra e à aquisição de dados com alto nível de confiança, graças à correlação das diferentes medições.
Todos os modos AFM incluídos como padrãoTodos os modos de AFM estão incluídos no pacote básico do SignatureSPM: Microscopia de Sonda Kelvin, Microscopia de Força de Resposta Piezoelétrica, Microscopia de Força Magnética, Nanolitografia e Medições de Curva de Força. |
|
Espectrômetro de ampla faixa otimizado para Raman e fotoluminescência.Projetado para imagens de espectroscopia, o espectrômetro do SignatureSPM garante perda mínima de luz graças ao seu design acromático e impressionante refletividade de 95%. Ele oferece uma capacidade única para realizar medições Raman e de fotoluminescência (PL) precisas e eficientes, devido ao seu design versátil que comporta até 3 grades de difração para uma ampla cobertura da faixa espectral. |  |
Medições verdadeiramente colocalizadas com "Probe away"O comando de software "Probe away" afasta o cantilever da superfície da amostra, permitindo a obtenção de mapas Raman confocais totalmente desobstruídos. Com o comando "Probe back", a ponta do AFM retorna automaticamente ao ponto de análise anterior na superfície da amostra. |  |
Acesso direto ao ápice do cantilever com alta acessibilidade óptica.Os caminhos ópticos para AFM e espectroscopia são completamente separados. |  |
AFM para varreduras amplas e resolução molecularThe SignatureSPM offers exceptional AFM performance with stability and speed, thanks to its 100 x 100 x 15 micron-range scanner. It achieves large scans and molecular resolution, prioritizing stability through fast response time, low noise, low drift, and metrological traceability. |  |
Ajuste rápido e repetível da alavancaA troca de pontas pode ser feita de forma integrada, independentemente do operador, e com reprodutibilidade incomparável. Ao substituir a alavanca, o mesmo ponto na superfície da amostra pode ser facilmente encontrado e escaneado sem etapas adicionais de busca (com repetibilidade de poucos micrômetros). |  |
Ajuste do sistema de registro AFM automatizadoO alinhamento totalmente automatizado do laser, da alavanca e do fotodiodo foi projetado para uma integração perfeita com a espectroscopia óptica, eliminando a necessidade de intervenção do usuário. |  |
Não houve interferência entre o laser AFM e as medições espectroscópicas.O diodo laser infravermelho do AFM não interfere com os lasers de excitação Raman/PL visíveis e elimina qualquer influência parasita em amostras biológicas, semicondutoras e fotovoltaicas sensíveis à luz visível. |  |
Você tem alguma dúvida ou solicitação? Utilize este formulário para entrar em contato com nossos especialistas.
External magnet for MFM measurements with high-NA optical access
AFM-Raman para imagens físicas e químicas
Nanoscopia correlativa direta e em tempo real
A plataforma óptica AFM
AFM-Raman para imagens físicas e químicas
AFM-Raman para imagens físicas e químicas
Nanoscopia correlativa direta e em tempo real
AFM-Raman para imagens físicas e químicas
