型号 | XGT-9000 | XGT-9000SL |
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基本信息 | ||
仪器 | 微区X射线荧光分析仪 | |
样品类型 | 固体、液体、颗粒 | |
检测元素 | 轻元素检测器:C* – Am (常规检测器:F – Am) | |
样品仓尺寸 | 450(W) x 500(D) x 80(H) | 1030(W) x 950(D) x 500(H) |
最大样品尺寸 | 300(W) x 250(D) x 80(H) | 500(W) x 500(D) x 500(H) |
样品最大质量 | 1 kg | 10 kg |
光学观察 | 两个带物镜的高分辨率相机 | |
光学设计 | 垂直同轴 X 射线和光学观察 | |
样品照明/观察 | 顶部、底部和侧向照明/明场和暗场 | |
X-射线管 | ||
功率 | 50 W | |
电压 | 最高50 kV | |
电流 | 最大1 mA | |
靶材 | Rh | |
X射线光光学系统 | ||
X射线头数量 | 最多配置四个 | |
光谱优化初级X-射线滤光片 | 5个位置 | |
检测器 | ||
荧光X-射线检测器 | 硅漂移检测器(SDD) | |
透射X射线检测器 | NaI(Tl) | |
扫描分析 | ||
扫描范围 | 100 mm x 100 mm | 350 mm x 350 mm |
步进尺寸 | 2 mm | 4 mm |
运行模式 | ||
样品环境 | 全真空/局部真空/大气环境/He吹扫(选配) | 局部真空/大气环境/He吹扫(选配) *He吹扫条件对于两个检测器都检测到C和F是必要的。 |