使用 XGT-9000 对电子元件进行无损故障分析

μ-XRF 是一种无损分析技术，由于 X 射线的高穿透性，它可以检查样品内部的缺陷，甚至是不可见的缺陷。本应用介绍了使用 XGT-9000 检测电子设备上的离子迁移、空隙和异物等故障分析，主要特点是10 μm X射线头垂直照射以及荧光 X 射线和透射 X 射线的同时成像