MESA-50K

X射线荧光分析仪

为了满足 RoHS/ELV 测试和分析有害元素,HORIBA 提供了 X 射线荧光分析仪 XGT-1000WR 系列。 自 2002 年以来,全球已有 1000 台仪器用于这些应用,以满足客户在不切割样品的情况下分析样品的关键需求。 2012 年,HORIBA发布了直观便捷的 MESA-50 X射线荧光分析仪,在很短的时间内变得非常流行,2013 年,MESA-50 系列增加了一种带有大样品室的新型 MESA-50K, 它配备了无需液氮的精密检测器,As/Sb 分析功能和多层膜FPM 可作为可选功能。

事业部: 科学仪器
制造商: HORIBA, Ltd.

1. 快速

  • 硅漂移检测器(SDD) 大幅度减少了测量时间,在高通量的同时提供了更高的灵敏度

2. 小巧

  • 便携、体积小、重量轻
  • 内部电池供电

3. 简单

  • 减少日常维护工作(无需液氮)
  • 无需真空泵
  • 各种材料测量直观简单

4. 智能

  • 英文/日文/中文多语言操作界面
  • Excel数据管理工具

5. 安全

  • 无需担心 X 射线泄漏

Options & Consumables

Basic Items

 
PrincipleEnergy dispersive X-ray fluorescence spectrometry
Target applicationRoHS, ELV, Halogen Free
Meas. Elements13Al - 92U
Sample typeSolid, Liquid, Powder
X-ray generator

 
X-ray tubeMax 50kV, 0.2mA
X-ray irradiation size1.2mm, 3mm, 7mm (Automatic switching)
X-ray primary filter4 types (Automatic switching) 
Detector
 
TypeSDD (Silicon Drift Detector)
Signal processorDigital pulse processor
Sample chamberAtmosphereAir
Sample observationCCD camera
样品仓尺寸460 x 360 x 150 mm [W x D x H]
UtilityOperationPC (Windows® 7)
Power supply100-240V, 50/60Hz
仪器尺寸 590 x 590 x 400 mm [W x D x H]
重量 60 kg
软件分析功能

多层膜FPM法(可选)

Sb/As分析(可选)

*Windows is a registered trademark of Microsoft Corporation.

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