MESA-50K

X射线荧光分析仪

为了满足 RoHS/ELV 测试和分析有害元素,HORIBA 提供了 X 射线荧光分析仪 XGT-1000WR 系列。 自 2002 年以来,全球已有 1000 台仪器用于这些应用,以满足客户在不切割样品的情况下分析样品的关键需求。 2012 年,HORIBA发布了直观便捷的 MESA-50 X射线荧光分析仪,在很短的时间内变得非常流行,2013 年,MESA-50 系列增加了一种带有大样品室的新型 MESA-50K, 它配备了无需液氮的精密检测器,As/Sb 分析功能和多层膜FPM 可作为可选功能。

事业部: 科学仪器
制造商: HORIBA, Ltd.

1. 快速

  • 硅漂移检测器(SDD) 大幅度减少了测量时间,在高通量的同时提供了更高的灵敏度

2. 小巧

  • 便携、体积小、重量轻
  • 内部电池供电

3. 简单

  • 减少日常维护工作(无需液氮)
  • 无需真空泵
  • 各种材料测量直观简单

4. 智能

  • 英文/日文/中文多语言操作界面
  • Excel数据管理工具

5. 安全

  • 无需担心 X 射线泄漏

Options & Consumables

 基本规格原理能量色散型X射线荧光光谱
应用领域RoHS, ELV, 无卤
测量元素13Al - 92U
样品类型固态,液态,粉末
X 射线发生装置

 
X 射线管50Kv(最高),0.2mA
X 射线分析直径1.2mm, 3mm, 7mm(自动切换)
X 射线一次滤光片4种(自动切换)
检测器
 
类型SDD (硅漂移检测器)
信号处理器DPP (数字脉冲处理器)
样品室环境大气
样品观察CDD 相机
样品仓尺寸460 x 360 x 150 mm [W x D x H]
设备操作系统电脑 (Windows® 7)
供电AC适配器(100-240V, 50/60Hz)
仪器尺寸 590 x 590 x 400 mm [W x D x H]
重量 60 kg
软件分析功能

多层膜 FPM法(可选)

Sb/As 分析(可选)

*Windows 是微软公司的注册商标。

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