Search
English
Corporate
France
Produits
Spectromètres, microscopes et imagerie Raman
Sélection par Produit Raman
Solution Raman par Activité
Solution Raman par Fonction Matérielle
Solutions Logicielles Raman
Services Raman
Applications Raman
Raman Academy
Parcourir les produits
LabRAM Soleil
LabRAM Odyssey
XploRA PLUS
LabSpec 6 Spectroscopy Suite Software
Plateforme optique AFM
Parcourir les produits
SignatureSPM
OmegaScope
SmartSPM
TRIOS
XploRA Nano
LabRAM Nano
LabRAM Soleil Nano
CombiScope
Spectromètres de fluorescence
Steady State Fluorescence
Fluorescence Lifetimes with TCSPC
Fluorescence Microscopy
Parcourir les produits
Aqualog
DeltaFlex TCSPC
DeltaPro TCSPC
Duetta
FLIMera
Fluorolog-QM
FluoroMax
InverTau
Nanolog
Veloci
Analyseurs par fluorescence X
Micro-XRF Application Corner
XGT-9000 | X-ray Analytical Microscope
XGT-9000SL | X-ray Analytical Microscope Super Large Chamber Model
MESA-50 | X-Ray Fluorescence Analyzer
MESA-50K | X-Ray Fluorescence Analyzer
Spectromètres d'émission à décharge luminescente SDL
GD-Profiler 2
Spectromètres d'émission à couplage inductif ICP
Ultima Expert
Ultima Expert LT
Analyseurs Élémentaires Carbone, Soufre, Oxygène, Azote et Hydrogène
Application corner
EMIA-Expert | C/S Analyzer
EMIA-Pro | C/S Analyzer
EMIA-Step | C/S Analyzer
EMGA-Expert (EMGA-30E/20E) | O/N/H Analyzer
EMGA-Expert (EMGA-21E) | H Analyzer
EMGA-Pro (EMGA-20P) | O/N/H Analyzer
Analyseurs de Soufre dans les hydrocarbures
Sulfur-in-Oil Home
Energy Dispersive X-ray Fluorescence
Combustion Elemental Analysis
Parcourir les produits
SLFA-60
SLFA-6000
MESA-7220V2
MESA-7220
X-5000
XPLORER-NS
XPLORER-TX/TS
Analyseurs pour la caractérisation des particules
Granulométrie - Taille des particules
Granulomorphie - Forme des particules
Potentiel zêta
Analyse de surface
Concentration des particules
Parcourir les produits
Partica LA-960V2
Partica mini LA-350
ViewSizer 3000
nanoPartica SZ-100V2 Series
Solutions de spectroscopie sur mesure
Modular Raman
Photoluminescence
Microscope Spectrometers
Darkfield Scattering
Electroluminescence and Photocurrent
Reflectance and Transmittance
Time-resolved Photoluminescence (Lifetime)
Micro-Photoluminescence
Raman Microspectroscopy
Semiconductor Large Wafer Analysis
Micro-LED Analysis
Time Resolved Fluorescence
Cathodoluminescence
Light Sources
Spectrometers and Monochromators
Scientific Cameras and Single Channel Detectors
Mini-spectromètres et caméras scientifiques pour l'industrie
Grating Spectrometers
OEM Deep-Cooled Scientific Cameras
Parcourir les produits
Compact VUV CCD Spectrometer
Hyperspectral Imaging System
Imaging Scanning Monochromator
Miniature Spectrometers
Mini Raman Spectrometers
Multispectra Spectrometers
OES Spectrometers
PoliSpectra RPR Raman Plate Reader
UV-Vis-NIR Spectrometers
Réseaux de diffraction pour l'industrie et la recherche scientifique
Réseaux de diffraction pour les industriels
Réseaux de diffraction pour la recherche scientifique
Parcourir les produits
Blazed holographic plane gratings
Flat field and imaging gratings - Type IV
Gratings - Laser Pulse Compression Gratings
Gratings for astronomy
Gratings for Space-Flight
Gratings for Synchrotron, FEL and EUV light sources
Holographic concave gratings - Type I
Holographic plane gratings
Monochromator gratings - Type IV
Ruled plane gratings
Imageurs par résonance plasmonique de surface
OpenPleX
SPRi-Arrayer
Ellipsomètres spectroscopiques
UVISEL Plus
Auto SE
Smart SE
Solutions pour les sciences criminalistiques
Forensics Light Sources
RUVIS
Imaging
AFIS
Goggles & Camera Filters
Applications
Automotive & Aeronautics
Semiconductors
Material Sciences
Biotechnology and Biomedical
Biopharma and Pharma
Cosmetics
Food & Beverage
Environment
Energy
Chemistry
Metallurgy
Others
Technologie
Spectroscopy
Cathodoluminescence
Raman Spectroscopy
AFM-Raman
Fluorescence Spectroscopy
Photoluminescence Spectroscopy
Vaccum Ultra Violet
Diffraction Gratings
Monochromator and Spectrograph
Detectors
X-ray Fluorescence Spectroscopy (XRF)
Spectroscopic Ellipsometry
Microscopy and Imaging
Raman Microscopy
Cathodoluminescence
Atomic Force Microscopy [AFM]
AFM-Raman
Nanoparticle Tracking Analysis
Electrochemistry
The Story of pH (Link to dedicated website)
The Story of Ion
The Story of ORP
The Story of Conductivity
The Story of Salt
The Story of Dissolved Oxygen
Physisorption
Surface Area Measurements
Particle Analysis
Dynamic Light Scattering
Static Light Scattering
Molecular Weight
Zeta Potential
Image Analysis of Particles
Nanoparticle Tracking Analysis
Centrifugal Sedimentation
Elemental Analysis
Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy (GDOES)
Inductively Coupled Plasma - Optical Emission Spectroscopy (ICP-OES)
Carbon/Sulfur & Oxygen/Nitrogen/Hydrogen Analysis
X-ray Fluorescence Spectroscopy (XRF)
Surface Plasmon Resonance
Surface Plasmon Resonance imaging
Ressources
eBooks
Webinars
Videos On Demand
Science in Action Series
Women in Science Series
Spectroscopy Matters
Nobel Laureate Connections
Jobin Yvon History - 200 Years of Optical Innovation
Events
News
In the Media
Career
Service
Worldwide Locations
Contact
Pays
Appliquer
Nous contacter
HORIBA dans le monde
HORIBA
»
Systèmes et Instruments Scientifiques
»
Ressources
»
News
Oops, an error occurred! Code: 20260426201918730a8984
Nous contacter
Corporate