A plataforma AFM permite o uso totalmente integrado da microscopia confocal Raman e do AFM para espectroscopias ópticas aprimoradas pela ponta (como a espectroscopia Raman aprimorada pela ponta (TERS) e a fotoluminescência aprimorada pela ponta (TEPL)), mas também para medições AFM-Raman verdadeiramente colocalizadas.
A miríade de técnicas de AFM (Microscopia de Força Atômica) que permitem o estudo de propriedades topográficas, elétricas e mecânicas pode ser realizada com qualquer fonte de laser disponível em um espectrômetro Raman, ou com outras fontes de iluminação externa (por exemplo, simulador solar ou outra fonte sintonizável ou contínua). TERS e TEPL podem fornecer informações químicas e estruturais em nanoescala, tornando a plataforma AFM-Raman uma via de mão dupla, onde técnicas complementares proporcionam capacidades de imagem inovadoras e exclusivas umas às outras.
A observação da assinatura nanoRaman de uma amostra enquanto ela passa por modificações induzidas eletroquimicamente pode revelar o aparecimento local de espécies transitórias e possibilitar o estudo de sua cinética de formação.
Leia maisA obtenção e coleta simultânea de respostas TERS em finas lâminas de WS2, com dois lasers, enriquece sua resposta espectral e fornece informações valiosas sobre suas propriedades optoeletrônicas, além de reduzir o tempo total de aquisição e evitar variações no sinal de sonda.
Leia maisA espectroscopia Raman, combinada com a microscopia de força atômica (AFM), permite uma caracterização precisa em nanoescala das camadas que compõem as células solares de película fina, bem como a contaminação cruzada que ocorre em suas interfaces.
Leia maisCompreender como e por que as baterias se degradam ao longo do tempo é essencial para melhorar o design e o desempenho do ciclo de vida.
Neste webinar, explore a abordagem da HORIBA para estudos de envelhecimento usando µRaman, GD-OES e SEI para diagnósticos in situ e ex situ. Veja como mapeamos o crescimento da SEI, detectamos a formação de óxido e acompanhamos as mudanças estruturais nos eletrodos para prever a queda de desempenho e orientar melhores escolhas de materiais e processos.
A espectroscopia Raman de superfície aprimorada por TERS fornece informações vibracionais de uma amostra com resolução nanométrica. A obtenção de informações físico-químicas com tal resolução abre possibilidades para caracterizar materiais em níveis sem precedentes, permitindo descobertas de pesquisa inimagináveis até recentemente. Esta palestra apresenta os fundamentos da TERS através da história da óptica espectroscópica de campo próximo.
Assista agoraNeste webinar, serão discutidos diversos desenvolvimentos interessantes no campo da espectroscopia Raman com ponta de varredura (TERS), incluindo a dependência não trivial do comprimento de onda de excitação na resposta TERS do modo gap de dicalcogenetos de metais de transição (TMDs) em prata, que resultou na reconsideração do papel dos efeitos de ressonância e do forte acoplamento óptico em TERS, e a descoberta completamente inesperada de bandas Raman normalmente proibidas em espectros TERS da monocamada de h-BN em ouro, causadas pela proximidade da monocamada de TMD a múltiplas camadas esfoliadas sobre ela...
Assista agoraA combinação da Microscopia de Força Atômica (AFM) e da Espectroscopia Raman proporciona uma compreensão profunda das propriedades complexas de diversos materiais. Enquanto a espectroscopia Raman facilita a caracterização química de compostos, interfaces e matrizes complexas, oferecendo informações cruciais sobre estruturas e composições moleculares, incluindo contaminantes em microescala e materiais em traços, a AFM fornece dados essenciais sobre topografia e propriedades mecânicas, como textura superficial, adesão, rugosidade e rigidez em nanoescala.
Assista agoraO crescimento da industrialização de materiais semicondutores exige tecnologias para caracterizar suas propriedades. Plataformas de microespectroscopia óptica, como os microscópios Raman, oferecem informações físicas e químicas em um único sistema. Assim, a qualificação de processos, a avaliação da uniformidade de wafers ou a inspeção de defeitos em wafers podem ser realizadas com a microscopia Raman. Essas técnicas também podem ser aplicadas à caracterização de novos materiais.
Neste webinar, destacaremos como as microscopias de fotoluminescência e Raman podem abordar desafios na área de semicondutores. Também mostraremos como a combinação de microespectroscopias com AFM (Microscopia de Força Atômica) pode fornecer resolução nanométrica e uma compreensão mais profunda dessas estruturas.
Assista agoraCaracterização topográfica, elétrica e química verdadeiramente colocalizada de flocos de grafeno esfoliados
O grafeno, uma única camada de átomos de carbono dispostos em uma estrutura bidimensional em forma de favo de mel, exibe propriedades elétricas, térmicas e mecânicas notáveis, o que o torna objeto de extensa pesquisa em diversos campos científicos.
Leia maisCaracterização topográfica, elétrica e química verdadeiramente colocalizada de heteroestruturas de Van der Waals
As heteroestruturas de van der Waals, com suas propriedades únicas resultantes do acoplamento intercamadas fraco e da forte ligação no plano, oferecem oportunidades interessantes para o projeto de novos materiais com propriedades eletrônicas, ópticas e mecânicas personalizadas.
Leia maisCaracterização TERS de nanotubos lipídicos pirolisados para a fabricação de nanoeletrodos
Há trinta anos, a pesquisa se concentra na carbonização de estruturas 3D, especialmente para aplicações eletrônicas. Essas estruturas são preparadas com o auxílio da litografia e posteriormente pirolisadas. Para a fabricação de estruturas com dimensões inferiores a 100 nm, uma abordagem ascendente (bottom-up) utilizando nanotubos lipídicos está sendo tentada.
Leia maisImagem química em nanoescala de MXene Ti₃C₂Tₓ de uma a poucas camadas
Os MXenes são os materiais 2D de crescimento mais rápido e de maior escala. Possuem propriedades únicas, como boa condutividade e superfície hidrofílica. O controle da composição em nanoescala permitiria, em última análise, a engenharia de propriedades localmente, obtendo-se maior controle sobre os sistemas baseados em materiais 2D.
Leia maisNanolocalização TERS de pontos quentes SERS
A espectroscopia Raman com intensificação de superfície (SERS) é uma poderosa técnica analítica baseada em plasmônica para biossensoriamento. O efeito SERS depende de nanoestruturas que precisam ser projetadas para maximizar os fatores de intensificação e a especificidade molecular. Além da modelagem numérica, uma ferramenta analítica capaz de gerar imagens da intensificação localizada seria um diferencial importante.
Leia maisImagem química hiperespectral não destrutiva e sem marcadores de bicamadas fosfolipídicas com resolução espacial de 7 nm
As bicamadas fosfolipídicas, principais constituintes das membranas, atuam como uma barreira de permeabilidade seletiva para as nanopartículas que agora se infiltram amplamente em nosso ambiente. O estudo das interações entre nanopartículas e membranas celulares requer uma sonda química molecular com capacidade de resolução nanométrica.
Leia maisO desenvolvimento de memristores orgânicos tem sido dificultado pela baixa reprodutibilidade, estabilidade de resistência, escalabilidade e baixa velocidade de comutação. Conhecer o principal mecanismo de acionamento em escala molecular será fundamental para melhorar a robustez e a confiabilidade desses dispositivos orgânicos.
Leia maisA espectroscopia Raman com microscopia de força atômica (AFM-Raman) e seu modo TERS são utilizados para mapear em nanoescala defeitos estruturais e grupos químicos em flocos de óxido de grafeno (GO) com resolução espacial de 10 nm. O mapeamento TERS é combinado com medidas de microscopia de força de sonda Kelvin para imageamento simultâneo topográfico, eletrônico e químico da superfície do GO. A metodologia de medição multiparamétrica proposta nesta nota amplia a capacidade do TERS, permitindo uma correlação direta entre a composição química local e as propriedades físicas em nanoescala, não apenas para materiais 2D, mas para praticamente qualquer superfície de amostra.
Leia maisEsta nota de aplicação revela os principais detalhes instrumentais para o sucesso em medições TERS em líquidos usando geometria de iluminação/coleta lateral. Tal capacidade visa impulsionar avanços em diversas aplicações, como catálise heterogênea, eletroquímica, biologia celular e biomateriais. Nesta nota, demonstra-se a obtenção de imagens químicas em nanoescala de flocos de óxido de grafeno e nanotubos de carbono imersos em água com resolução TERS de até 20 nm, juntamente com imagens AFM sem contato.
Leia maisUma nova preocupação com a saúde humana surge agora em relação às partículas com menos de 23 nm emitidas por veículos motorizados em vias públicas. Além de medir o número e a massa das partículas, é fundamental determinar a composição química da superfície das nanopartículas para compreender a sua potencial reatividade com o meio ambiente.
Leia maisEsta nota de aplicação relata a nanocaracterização de materiais de dicalcogenetos de metais de transição (TMDCs) bidimensionais, considerados semicondutores de alto potencial para futuros dispositivos eletrônicos e optoeletrônicos em nanoescala. A microscopia de varredura por sonda, que permite o acesso às propriedades topográficas e eletrônicas críticas em nanoescala, é acoplada às espectroscopias de fotoluminescência (PL) e Raman por meio de intensificação plasmônica para gerar informações elétricas e químicas correlacionadas em escala nanométrica.
Leia mais
Microscópio de varredura por sonda com assinatura química
Nanoscopia correlativa direta e em tempo real
AFM-Raman para imagens físicas e químicas
AFM-Raman para imagens físicas e químicas
A plataforma óptica AFM
AFM autônomo avançado
Acoplamento Óptico AFM Versátil
AFM e microscopia de luz invertida
Você tem alguma dúvida ou solicitação? Utilize este formulário para entrar em contato com nossos especialistas.
