Aplicações

Análise AFM-Raman colocalizada de heteroestruturas de materiais 2D

Caracterização topográfica, elétrica e química verdadeiramente colocalizada de heteroestruturas de Van der Waals

Análise AFM-Raman colocalizada de heteroestruturas de materiais 2D

Esta nota de aplicação relata medições colocalizadas de AFM-Raman em heteroestruturas verticais de Van der Waals de materiais 2D: hBN/grafeno/ WSe₂ e porta de grafite/hBN/grafeno bicamada/hBN. Dados topográficos, de diferença de potencial de contato e de Raman são gerados no mesmo local com a mesma ponta usando um microscópio AFM-Raman totalmente integrado, o novo SignatureSPM.

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