UVISEL Plus

UVISEL PLUS-HORIBA

Elipsômetro espectroscópico do ultravioleta extremo ao infravermelho próximo: 190 a 2100 nm

 

Elipsômetro de referência para medições de filmes finos

O elipsômetro UVISEL Plus oferece a melhor combinação de modularidade e desempenho para caracterização avançada de filmes finos, superfícies e interfaces.

O novo UVISEL Plus inclui a mais recente tecnologia de aquisição, projetada para realizar medições com maior rapidez e precisão do que nunca. O FastAcq, a mais nova tecnologia de aquisição, é baseado em dupla modulação e foi desenvolvido para a caracterização de filmes finos em situações reais. Com base em um novo sistema eletrônico, processamento de dados e monocromador de alta velocidade, a nova tecnologia FastAcq permite que a medição de uma amostra de 190 a 2100 nm seja concluída em apenas 3 minutos, com alta resolução.

Baseado na tecnologia de modulação de fase, o elipsômetro UVISEL Plus oferece um design óptico robusto para cobrir continuamente a faixa espectral de 190 a 2100 nm. Dados de alta qualidade são fornecidos em toda a faixa espectral em termos de alta precisão, medições de alta resolução e excelente relação sinal-ruído.

A tecnologia de modulação de fase caracteriza mudanças de polarização em alta frequência (50 kHz), sem qualquer movimento mecânico. O resultado é:

  • Medições de alta precisão para todos os valores de (Ψ,Δ)
  • Excelente relação sinal/ruído do FUV ao NIR
  • Velocidade de aquisição de dados muito rápida, de até 50 ms/ponto, ideal para estudos cinéticos e medições in situ em tempo real.

 

O elipsômetro de modulação de fase UVISEL Plus alcança maior sensibilidade e precisão na caracterização de filmes finos quando comparado a elipsômetros convencionais que utilizam elementos rotativos. Ele permite a detecção de filmes ou interfaces muito finos que nenhum outro elipsômetro consegue visualizar, bem como a caracterização de camadas espessas de até 50 µm. A medição e a caracterização de amostras transparentes com reflexões na face posterior são simples e precisas, sem a necessidade de riscar a superfície.

Projetado para oferecer maior flexibilidade em medições de filmes finos, o UVISEL Plus oferece microspots para amostras padronizadas, ângulo variável, estágio de mapeamento automático e uma variedade de acessórios, tornando-o escalável para atender a todas as suas necessidades de aplicação e orçamento.
O design modular do UVISEL Plus permite que ele seja usado tanto como uma ferramenta de metrologia de bancada quanto para integração in situ em câmaras de processo ou máquinas rolo a rolo.

O UVISEL Plus é controlado pela plataforma de software DeltaPsi2 ou pela interface Auto-Soft, comuns a todos os elipsômetros HORIBA. O DeltaPsi2 oferece um pacote completo de medição e modelagem, permitindo lidar com aplicações de filmes finos tanto rotineiras quanto avançadas, enquanto a interface Auto-Soft apresenta um fluxo de trabalho intuitivo para agilizar a coleta e análise de dados.

O UVISEL Plus e sua tecnologia FastAcq são os elipsômetros espectroscópicos mais versáteis para medições de espessura de filmes finos e constantes ópticas nas áreas de pesquisa e processamento de materiais, telas planas, microeletrônica e energia fotovoltaica.

O UVISEL Plus é considerado um elipsômetro de referência para ciência de materiais de ponta.

Segmento: Científico
Fabricante: HORIBA France SAS

Benefícios do produto

  • Máxima precisão e sensibilidade
  • Design modular
  • Ampla faixa espectral: 190-2100 nm
  • Pacote de software totalmente integrado para medição, modelagem e operações automáticas.

 

Informações obtidas

  • Espessura do filme fino de 1Å a 50 µm
  • Rugosidade da superfície e da interface
  • Constantes ópticas (n,k) para filmes isotrópicos, anisotrópicos e com gradiente de composição.
  • Dados ópticos derivados, tais como: coeficiente de absorção α, gap de banda óptica Eg
  • Propriedades do material: composição da liga composta, porosidade, cristalinidade, morfologia e muito mais.
  • Matriz de Mueller
  • Despolarização

 

 

 

Especificações UVISEL

  • Faixa espectral: de 190 a 885 nm │ Opção de extensão NIR até 2100 nm
  • Detecção: Monocromador de alta resolução acoplado a detectores sensíveis.

 

Configuração manual

  • Tamanho do ponto: 0,05 – 0,1 – 1 mm (orifício estenopeico)
  • Plataforma de amostra: 150 mm, ajuste manual de altura (20 mm) e inclinação.
  • Goniômetro: Ângulo ajustável manualmente de 55° a 90° em incrementos de 5°.

 

Configuração automática

  • Mesa de amostras automatizada: mesa de amostras XY de 200x200 mm e 300x300 mm, ajuste manual de altura (4 mm) e inclinação, mesa de amostras XYZ, mesa theta.
  • Goniômetro automático: Ângulo ajustável automaticamente de 45° a 90° em incrementos de 0,01°.

 

Goniômetro integrado

  • Ângulo de incidência manual: 35° a 90° em incrementos de 5°
  • Suporte de amostra: 150 mm, ajuste manual de altura Z de 20 mm
  • Sistema de autocolimação para alinhamento de amostras (opcional)
  • Dimensões: largura: 25 cm; altura: 35 cm; profundidade: 21 cm

 

Configuração in situ

  • Adaptação mecânica: flanges CF35 ou KF40
  • Alternância fácil entre configurações in situ e ex situ.
  • Mais informações

 

Opções

  • Acessórios: célula com controle de temperatura, célula líquida, célula eletroquímica, módulo de refletometria para medir a refletância com incidência de 0° e muito mais.
  • Visão: Câmera CCD
  • Mais informações

 

Desempenho

  • Precisão: Ψ = 45° ± 0,01° e Δ = 0° ± 0,01° medidos em configuração de ar em linha reta 1,5 – 5,3 eV
  • Repetibilidade: NIST 1000Å SiO2/Si (190-2100 nm): d ± 0,1 % – n(632,8nm) ± 0,0001
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