Análisis de fallos no destructivos de un PEMFC comercial usando un micro-XRF con una cámara súper grande

Introducimos análisis de fallos no destructivos en un gran conjunto de electrodos de membrana (MEA) de una pila comercial de PEMFC utilizando un HORIBA XGT-9000SL, un micro-XRF con capacidad de cámara extragrande. Gracias a la capacidad de la cámara, realizamos con éxito imágenes elementales no destructivas en un área defectuosa sin cortar la muestra, y encontramos distribuciones inesperadas de Fe, Ni, Mn y Cr dentro del área defectuosa, y que los elementos están presentes en el MEA como resultado de una posible degradación de la placa bipolar.