Realizar mediciones de reflectancia y transmitancia de amplio espectro desde UV hasta NIR con alta resolución espacial.
Punto de luz blanca enfocado en la superficie especular por diversos objetivos.
(a) Mapa μ-T de una muestra de mica, obtenido por objetivo 50x alrededor de la longitud de onda de 695 nm. (b) Imagen óptica del área de mapeo de la muestra de mica.
Medición de microreflectancia usando un objetivo. Reflexión capturada por un objetivo.
Medición de microreflectancia usando un objetivo. Imágenes de una mancha blanca enfocada por 10x objetivo, sobre el sustrato especular (arriba) y sobre una superficie de dispersión de escamas de MoS2 (abajo).
| Espectrómetro y detectores | ||||
|---|---|---|---|---|
| Espectrómetros | MicroHR | iHR320 | iHR550 | |
| Fuentes de excitación | Lámpara de xenón (200 nm – 2200 nm) | |||
| Lámpara halógena de tungsteno (> 350 nm) | ||||
| Láser supercontinuo (> 400 nm) | ||||
| Rango espectral (nm) 1 | 250 nm – 2200 nm | |||
| Rejillas recomendadas 2 | 1200 g/mm, 600 g/mm, 15 0 g/mm | |||
| Resolución espectral 3 (nm) | 0.39 | 0.18 | 0.1 | |
| Microscopio | |||||
|---|---|---|---|---|---|
| Objetivos del microscopio 4 | Aumento | 10X | 50X | 100X | |
| Tamaño del punto (acoplado a fibra) | < 50 μm | < 12 μm | < 6 μm | ||
| Tamaño de punto (espacio libre acoplado) | < 10 μm | < 5 μm | < 2 μm | ||
| Etapa de muestra | XYZ (opciones manuales y motorizadas disponibles) – 75 x 50 mm; 100 x 100 mm; 150 x 150 mm; 300 x 300 mm | ||||
| Cámara de visión | Incluye cámara de visión controlada por software | ||||
1 Extensión a mid-IR disponible bajo solicitud
2 Otras rejillas disponibles bajo demanda
3 Basado en una rejilla de 1200 g/mm a 500 nm y un CCD de 26 μm píxeles
4 Se pueden recomendar objetivos reflectantes si se trabaja en el UV o se utilizan múltiples fuentes que cubren un amplio rango espectral
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