Caracterización de pantallas TFT-LCD mediante elipsometría espectroscópica
Los dispositivos LCD consisten en un cristal líquido nemático intercalado entre dos placas de vidrio. En detalle, primero se recubre una lámina de vidrio con una película transparente de óxido metálico conductor que actúa como electrodo. A continuación, se aplica una capa de alineación de polímero. Cuando se aplica un campo eléctrico entre los dos electrodos, las moléculas de cristal líquido reaccionan de tal manera que controlan el paso de la luz.
La mayoría de las pantallas en uso actual emplean tecnología de tubo de rayos catódicos (CRT) similar a la empleada en la mayoría de los televisores. La tecnología CRT requiere cierta distancia desde el dispositivo de proyección hasta la pantalla para funcionar. Utilizando otras tecnologías, las pantallas pueden ser mucho más finas y se conocen como pantallas planas.
Las tecnologías de panel plano incluyen diodos emisores de luz (LED), pantallas de cristal líquido (LCD) y plasma gaseoso. Los LED y el plasma gaseoso funcionan iluminando las posiciones de la pantalla según los voltajes en diferentes intersecciones de la red. Las LCD se clasifican como dispositivos de visualización no emisivos, en el sentido de que no producen ningún tipo de luz. Las LCD pasan o bloquean la luz que se refleja de una fuente de luz externa o que es proporcionada por un sistema de iluminación trasera o lateral. Las LCD requieren mucha menos energía que las tecnologías LED y de plasma de gas que son actualmente la principal tecnología para portátiles y otros portátiles.
Caracterización completa del dispositivo TFT-LCD:
La caracterización no destructiva de las diferentes partes del dispositivo TFT-LCD se llevó a cabo con éxito mediante elipsometría espectroscópica (SE). Los datos elipsométricos se recogieron con un ángulo de incidencia de 70 a 0 utilizando el Jobin Yvon UVISEL NIR (260-1700 nm).
El Ellipsómetro Espectroscópico Modulado en Fase UVISEL es un instrumento único que ofrece ventajas significativas para aplicaciones de visualización en comparación con los elipsómetros convencionales. Su tecnología es la más adecuada para la medición precisa de películas delgadas en sustratos transparentes, ya que el software incluye capacidades avanzadas para la corrección automática de las reflexiones traseras.
