CombiScope

AFM y microscopía de luz invertida

El microscopio de fuerza atómica CombiScope (AFM) es un instrumento avanzado de investigación que proporciona la vía de entrada para investigadores en biología, espectroscopía y fotónica. Si trabajas con muestras transparentes, ya sea en aire o en líquido, hacia estructuras a escala nanométrica e investigación de propiedades nanoópticas (de campo cercano), la CombiScope es la solución adecuada para ti. Combina perfectamente microscopias de fuerza óptica invertida y atómica, y desata todo el poder de ambas técnicas, proporcionando el ajuste del instrumento y la automatización de la medición, alta resolución y alta velocidad. Además, se puede actualizar fácilmente a nuestros espectrómetros Raman.

Segment: Científico

Division: AFM y AFM-Raman

Empresa de Fabricación:HORIBA France SAS

Características
Especificación

Productividad extraordinaria y fácil operación

CombiScope está equipado con el soporte de voladizo totalmente motorizado y la posición de fotodiodo que proporciona la alineación automática láser con punta mediante clic en un botón. Esta opción simplifica drásticamente todo el proceso de ajuste del sistema y proporciona el mayor nivel de reproducibilidad del sistema. Además, después de instalar un nuevo voladizo del mismo tipo o incluso de otro tipo, el mismo punto (con una repetibilidad de unos pocos micras) en la superficie de la muestra puede ser fácilmente encontrado y escaneado sin necesidad de pasos adicionales de búsqueda.

Escáner de nivel superior

El CombiScope utiliza el escáner piezo-nanoposicionamiento de 3 ejes, de alta dinámica y lazo cerrado, del líder en control de movimiento de precisión, Physik Instrumente (PI). El escáner de nivel superior es el corazón del sistema, lo que le permite alcanzar niveles muy altos de linealidad, la máxima rigidez posible y un movimiento de extrema precisión.

Láser AFM de 1300 nm

El uso de láser AFM de 1300nm elimina cualquier interferencia con muestras biológicas y semiconductoras sensibles a la luz del VIS. También permite realizar mediciones simultáneas de AFM y fluorescencia o dispersión Raman sin diafonía para la mayoría de los láseres de excitación UV-VIS-NIR (364-830 nm) populares.

Integración con óptica

Además de microscopios ópticos invertidos integrados como el Nikon Eclipse Ti-u y el Olympus IX-71 con contraste de fase y DIC, el CombiScope puede equiparse con la cabeza que proporciona acceso óptico simultáneo tanto superior como lateral con objetivos planapocromatos (100x, NA=0,7 y 10x, NA=0,28 respectivamente). Esta opción abre la posibilidad de combinar las configuraciones verticales y de transmisión para estudiar muestras transparentes y no transparentes con técnicas ópticas, Raman y microscopía de sonda de barrido.

Soluciones para trabajar en líquidos

Los portamuestras estándar del CombiScope permiten todos los sustratos comunes de muestra, incluyendo portaobjetos, llaves de cubierta y placas de Petri de 35 mm. La celda líquida especialmente diseñada con capacidad de calentamiento y perfusión de líquidos permite que las muestras biológicas se mantengan delicadamente en su entorno fisiológico y a temperaturas de hasta 60°C.

Todos los modos de funcionamiento en un solo instrumento

El CombiScope incluye todos los modos de funcionamiento modernos de AFM en un solo instrumento, sin costes ni unidades adicionales, incluyendo modos específicos de aplicación como nanolitografías de fuerza y eléctricas, microscopía piezoeléctrica de fuerza (PFM), microscopía de sonda Kelvin y AFM de modulación de frecuencia (microscopía de fuerza dinámica con PLL incorporado). Además, la cabeza de microscopía de túnel de barrido (STM) y la unidad AFM conductora que operan en el rango de 100fA ÷ 10uA (con subrangos conmutables por software de 1nA, 100na y 10uA y ruido de corriente de 60fA RMS para subrango 1nA) y la cabeza de microscopía óptica de campo cercano (SNOM) están disponibles como opciones. Tal versatilidad excepcional del instrumento lo convierte en una solución perfecta para la nanociencia.

Modos de medición

Contactar con AFM en el aire;
Contacta con AFM en líquido (opcional);
Semicontacto AFM en el aire;
AFM semicontacto en líquido (opcional);
AFM verdaderamente sin contacto;
Microscopía de Fuerza Dinámica (DFM, FM-AFM);
Microscopía de fuerza de disipación;
Modo Superior;
Imagen de fase;
Microscopía de Fuerza Lateral (LFM);
modulación de fuerza;
AFM conductor (opcional);
Modo I-Top (opcional);
Microscopía de Fuerza Magnética (MFM);
Sonda Kelvin (Microscopía de Potencial de Superficie);
Sonda Kelvin de paso único;
Microscopía de Capacitancia (SCM)
Microscopía de Fuerza Eléctrica (EFM);
MFM/EFM de paso único ("escaneo plano");
Mediciones de curvas de fuerza;
Microscopía de Fuerza de Respuesta Piezoeléctrica (PFM);
Modo PFM-Top;
Nanolitografía;
Nanomanipulación;
STM (opcional);
Mapeo de Fotocorriente (opcional);
Mediciones de características de volt-amperio (opcionales).

Modos de medición en líquido con cabeza AFM HE001 y celda líquida

Contacta con AFM;
AFM semicontacto;
TopMode;
Imagen de fase;
Microscopía de Fuerza Lateral (LFM);
modulación de fuerza;
Mediciones de curvas de fuerza;
Nanolitografía;
Nanomanipulación.

Escáner y base

Rango de escaneo de muestras: 100 μm x 100 μm x 20 μm (±10 %)
Tipo de escaneo por muestra: XY no linealidad 0,05 %; No linealidad Z 0,05 %
Ruido: 0,1 nm RMS en dimensión XY en ancho de banda de 100 Hz con sensores de capacitancia activados; 0,02 nm RMS en dimensión XY en ancho de banda de 100 Hz con sensores de capacitancia desactivados; < sensor de capacitancia RMS Z de 0,1 nm en ancho de banda de 1000 Hz
Frecuencia de resonancia: XY: 7 kHz (sin carga); Z: 15 kHz (sin carga)

Base

Posicionamiento manual de la muestra: rango 25x25mm, resolución de posicionamiento 1um;
Posición de cabeza de medición de SPM motorizada: 1,6x1,6mm, resolución de posicionamiento 1um;
Aproximación motorizada: 1,3 mm;
Portamuestras para portaobjetos estándar y gafas de cubierta;
Soporte de muestra opcional: tamaño máximo de muestra: 50,8x50,8 mm, 5 mm de altura con posibilidad de elegir área de medición 25x25 mm en cualquier cuadrante de área de 50,8x50,8 mm o en el centro de la muestra.

Cabeza AFM HE001

Longitud de onda del láser: 1300nm;
No hay influencia láser de registro sobre la muestra biológica;
Sin influencia del láser de registro en las mediciones fotovoltaicas.
Ruido del sistema de registro: <0,03 nm.
Totalmente motorizado: 4 motores paso a paso para alineación automatizada de voladizo y fotodiodo.
Acceso libre a la sonda para manipuladores y sondas externas adicionales;
Acceso óptico simultáneo superior y lateral: objetivos planapocromáticos 10x, NA=0,28 y 20x, NA=0,42 respectivamente.

Celda líquida (opcional)

Posicionamiento manual de la muestra: alcance 15x15mm, resolución de posicionamiento 1um;
Soporte para placa de Petri de diámetro 35mm;
Volumen de líquido: 1,5-2,5 ml;
Flujo directo para intercambio líquido: dos tubos.

Unidad AFM conductora (opcional)

Rango actual: 100fA ÷ 10uA;
3 rangos de corriente (1nA, 100na y 10uA) conmutables desde el programa;
Rango de voltaje: -10 ÷ +7V;
Ruido de corriente RMS: menos de 60fA para rango de 1nA.

Compatibilidad con microscopios ópticos invertidos

No hay interferencias con la imagen óptica debido al láser infrarrojo;
Capacidad para instalar en:
Nikon Ti-E, Ti-U, Ti-S, TE2000;
Olympus IX-71, IX-81;
Contraste de fase, DIC y técnicas fluorescentes con condensador óptico nativo;
Posibilidad de actualización a TRIOS plataforma para operación espectroscópica y TERS.

Microscopio óptico para operación autónoma (opcional)

Apertura numérica: hasta 0,1;
Aumento en monitor de 19" con CCD de 1/3": de 85x a 1050x.
Campo de visión horizontal: de 4,5 a 0,37 mm
Zoom manual de retención: 12,5x
Soporte y unidad de enfoque grueso/fino;
Capacidad para usar objetivos planapocromatos: 10x, NA=0,28 y 20x, NA=0,42 y 100x, NA=0,7 (depende de la cabeza AFM);

Software

Alineación automática del sistema de registro;
Configuración automática y preajuste para técnicas estándar de medición;
Ajuste automático de frecuencia de resonancia en voladizo;
Capacidad para trabajar con curvas de fuerza;
Macro lenguaje Lua para programar funciones de usuario, scripts y widgets;
Capacidad para programar el controlador con lenguaje de macros DSP en tiempo real sin necesidad de recargar software de control;
Capacidad para procesar imágenes en espacio de coordenadas, incluyendo la realización de secciones transversales, ajuste y suavizado de polinomios de hasta 8 grados;
Procesamiento FFT con capacidad para tratar imágenes en espacio de frecuencias, incluyendo filtración y análisis;
Nanolitografía y nanomanipulación;
Procesando imágenes de hasta 5000x5000 píxeles.