El nanosizer ^® en Origin ^® Pro 8 simplifica el proceso de simulación y análisis para la simulación y análisis de mapas de excitación-emisión de nanotubos de carbono de pared única. Nanosizer se utiliza con nuestros espectrofluorómetros de Nanolog, que están diseñados específicamente para la investigación en nanotecnología y nanomateriales. Nanosizer viene con nuestro algoritmo patentado de doble convolución integral, especialmente diseñado para determinar la quiralidad y el diámetro de nanotubos de carbono de pared simple.

Nanosizer ^® te permite simular mapas de excitación-emisión de la fluorescencia en infrarrojo cercano de SWNT para compararlos con tus datos reales. Utilizando bibliotecas integradas o personalizadas, Nanosizer ^® asigna rápidamente picos específicos a estructuras SWNT (n,m) particulares, e incluso genera mapas helicoidales. Nanosizer ^® también simplifica enormemente los estudios de FRET de fibrados SWNT, análisis de distribución de longitud y análisis de purificación de nanotubos. Nanosizer ^® incluso ofrece una plataforma adecuada para apoyar futuras normas ISO y ASTM para la identificación y purificación de SWNTs semiconductoras.

Perfecto para FRET en fibrados SWNT, análisis de distribución de longitudes y aplicaciones de purificación

Características y beneficios del Nanosizer ^® en OriginPro ^® 8

• Región eficiente de interés y parametrización inicial del modelo
• Número prácticamente ilimitado de picos
• Enlace global y fijación de parámetros de pico
• Restricciones completas sobre todos los parámetros de pico del modelo
• Guardar Temas para una parametrización rápida del modelo
• Formas analíticas de líneas 2D: Gaussana, Lorentziana y Convolución de Voigt
• Ponderación estadística correcta de los residuos
• Análisis estadístico completo de parámetros de pico de ajuste
• Presentación gráfica y tabular de los resultados de ajuste y los residuos
• Ajusta datos en unidades de energía (cm–1, eV) o longitud de onda (nm)
• Compara los parámetros de pico con la biblioteca editable por el usuario para gráficos y tablas de ángulo de hélice, diámetro y (n,m)
• Diseñado para las normas ISO y ASTM para identificación/cuantificación de SWNT semiconductoras