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Si Stress Flyer
Tensión Si
Análisis automatizado de tensiones de silicio
Análisis automatizado de tensiones de silicio para aplicaciones industriales, de investigación y de pruebas de calidad Microcristalino de Si
La espectroscopía Raman es una de las herramientas más importantes para investigar las propiedades básicas de los semiconductores. Es especialmente eficaz para establecer las características de las células fotovoltaicas y los dispositivos microelectrónicos.
El esfuerzo y la deformación mecánica pueden detectarse analizando el desplazamiento espectral de la posición de la banda, permitiendo así cuantificar la tensión de tracción y compresión.
La aplicación Si Stress se une a la suite de software LabSpec6 para el análisis automatizado de tensiones de silicio microcristalino con informes de análisis optimizados
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