SMS Añadir espectroscopía a CUALQUIER microscopio -HORIBA

El SMS viene ya sea como un sistema completo que incluye el microscopio, o como una mejora del microscopio existente del usuario. Como mejora, el sistema SMS es compatible con cualquier microscopio vertical de los principales fabricantes de microscopios, como Olympus®, Nikon®, Zeiss® y Leica®.

Técnicas destacadas

Raman

El SMS ofrece microespectroscopía Raman de alto rendimiento con especificaciones comparables a los sistemas de mesa de alta gama, pero con una flexibilidad inigualable.

Diseño único con filtro cortado y nítido permite acceso a modos de número de onda bajos (mejor de 80 ^cm-1 garantizado)
Funcionalidad avanzada, como el mapeo

Fotoluminiscencia

El sistema SMS utiliza principalmente óptica reflectora en su diseño, ofreciendo un amplio rango espectral tanto para excitación (266 nm – 1064 nm) como para emisión (250 nm – 2200 nm)
Multiplexa diferentes técnicas en un mismo sistema, como la imagen de fluorescencia basada en filtros y la imagen fotoluminiscencia hiperespectral completa
Mapear obleas de hasta 300 mm

Fotoluminiscencia resuelta en el tiempo (Vida útil)

Añadir fotoluminiscencia resuelta en el tiempo o medición de puntos de vida e imagen a cualquier sistema SMS con la opción de Conteo de Fotones Únicos Correlacionados en el Tiempo (TCSPC).
Trabajar en el dominio temporal elimina las influencias confusas de la concentración y el blanqueamiento fotográfico, además de ofrecer información sobre fenómenos temporales, como la dinámica de portadores en fotovoltaicos y defectos en semiconductores.

Con su operación líder en la industria a 100 MHz, la opción SMS TCSPC tiene tasas de adquisición rápidas, con decaimientos adquiridos en apenas milisegundos, lo que permite mediciones dinámicas durante toda la vida útil del TCSPC. Selecciona de nuestro catálogo actual de más de 70 fuentes de luz pulsada compactas, con más que se añaden constantemente.

SMS-FLIM video

Reflectancia y transmitancia

Realizar mediciones de reflectancia y transmitancia de amplio espectro desde UV hasta NIR con alta resolución espacial.

Electroluminiscencia y fotocorriente

Con su diseño de armazón de microscopio abierto, el sistema SMS puede alojar microsondas que permiten mediciones electroluminiscentes en LEDs, materiales fotovoltaicos y otros semiconductores.

Dispersión en campo oscuro

Nanoespectroscopía con técnica de dispersión en campo oscuro
Aprovecha la funcionalidad de campo oscuro en el microscopio para realizar nanoespectroscopía en el SMS. Permitir la caracterización de nanomateriales midiendo el espectro de dispersión de luz en modo campo oscuro.

Descargue el folleto SMS para más información

Especificaciones Raman

Espectrómetro y detectores
Espectrómetros		MicroHR		iHR320		iHR550
Láseres de excitación		532 nm, 633 nm, 785 nm
Rango espectral (^cm-1) – Espacio libre		80 – 9500 (532 nm), 80 – 6500 (633 nm), 80 – 3400 (785 nm)
Rango espectral (^cm-1) – Fibra		150 – 9500 (532 nm), 150 – 6500 (633 nm), 150 – 3400 (785 nm)
Rejas recomendadas		1800 g/mm, 1200 g/mm, 600 g/mm
Resolución ^{espectral 1} (^cm-1 / píxel)	405 millas náuticas	5.12		2.34		1.37
	532 nm	2.53		1.22		0.73
	633 millas náuticas	1.54		0.78		0.48
	785 millas náuticas	0.70		0.40		0.26
Microscopio
Objetivos del microscopio		Aumento	10X		50X		100X
		Tamaño del spot (acoplado por fibra)	< 50 μm		< 12 μm		< 6 μm
		Tamaño del spot (espacio libre acoplado)	< 10 μm		< 5 μm		< 2 μm
Etapa de muestra		XYZ (opciones manuales y motorizadas disponibles) – 75 x 50 mm; 100 x 100 mm; 150 x 150 mm; 300 x 300 mm
Cámara de visión		Incluye cámara de visión controlada por software

¹ Para rejilla de 1800 g/mm y CCD de 26 μm píxeles

Especificaciones de fotoluminiscencia

Espectrómetro y detectores
Espectrómetros	MicroHR		iHR320		iHR550
Láseres de ^{excitación 1}	266 nm, 325 nm, 405 nm, 532 nm, 633 nm, 785 nm, 980 nm, 1064 nm
Rango espectral (nm) ²	250 nm – 2200 nm
Rejas ^{recomendadas 3}	1800 g/mm, 600 g/mm, 300 g/mm
Resolución ^{espectral 4} (nm)	0.39		0.18		0.1
Microscopio
Objetivos ^{del microscopio 5}	Aumento	10X		50X		100X
	Tamaño del spot (fibra acoplada)	< 50 μm		< 12 μm		< 6 μm
	Tamaño del spot (espacio libre acoplado)	< 10 μm		< 5 μm		< 2 μm
Etapa de muestra	XYZ (opciones manuales y motorizadas disponibles) – 75 x 50 mm; 100 x 100 mm; 150 x 150 mm; 300 x 300 mm
Cámara de visión	Incluye cámara de visión controlada por software

¹ Otras longitudes de onda láser disponibles bajo demanda
² Extensión a mid IR disponible bajo solicitud
³ Otras rejillas disponibles bajo demanda
⁴ Basado en una rejilla de 1200 g/mm a 500 nm y un CCD de 26 μm píxeles
⁵ Se pueden recomendar objetivos reflectantes si se trabaja en el UV o se utilizan múltiples fuentes que cubren un amplio rango espectral

Especificaciones de fotoluminiscencia resuelta en el tiempo (Vida Útil)

Espectrómetro y detectores
Espectrómetros	MicroHR		iHR320		iHR550
Láseres de excitación	Fuentes pulsadas discretas disponibles desde 260 nm hasta 1060 nm
	Láser blanco pulsado sintonizable desde 400 nm
Rango espectral (nm)	250 nm – 1700 nm
Rejas ^{recomendadas 1}	1200 g/mm, 600 g/mm, 300 g/mm
Resolución ^{espectral 2} (nm)	0.39		0.18		0.1
Rango de vida ^{medible 3}	25 ps a segundos
Microscopio
Objetivos del ^{microscopio 4}	Aumento	10X		50X		100X
	Tamaño del spot (acoplado por fibra)	< 50 μm		< 12 μm		< 6 μm
	Tamaño del spot (espacio libre acoplado)	< 10 μm		< 5 μm		< 2 μm
Etapa de muestra	XYZ (opciones manuales y motorizadas disponibles) – 75 x 50 mm; 100 x 100 mm; 150 x 150 mm; 300 x 300 mm
Cámara de visión	Incluye cámara de visión controlada por software
Software ^{adicional 5}	EzTime (o EzTime Image, si haces FLIM)

¹ Otras rejillas disponibles bajo demanda
² Basado en una rejilla de 1200 g/mm a 500 nm y un CCD de 26 μm píxeles
³ Electrónica y detectores con vidas útiles inferiores a 25 ps disponibles bajo demanda
⁴ Se pueden recomendar objetivos reflectantes si se trabaja en el UV o se utilizan múltiples fuentes que cubren un amplio rango espectral
⁵ Tanto EzTime como EzTime Image pueden instalarse en el mismo ordenador que LabSpec 6

Especificaciones de Reflectancia y Transmitancia

Espectrómetro y detectores
Espectrómetros	MicroHR		iHR320		iHR550
Fuentes de excitación	Lámpara de xenón (200 nm – 2200 nm)
	Lámpara halógena de tungsteno (> 350 nm)
	Láser supercontinuo (> 400 nm)
Rango espectral (nm) ¹	250 nm – 2200 nm
Rejillas ^{recomendadas 2}	1200 g/mm, 600 g/mm, 15 0 g/mm
Resolución ^{espectral 3} (nm)	0.39		0.18		0.1
Microscopio
Objetivos del ^{microscopio 4}	Aumento	10X		50X		100X
	Tamaño del spot (acoplado por fibra)	< 50 μm		< 12 μm		< 6 μm
	Tamaño del spot (espacio libre acoplado)	< 10 μm		< 6 μm		< 2 μm
Etapa de muestra	XYZ (opciones manuales y motorizadas disponibles) – 75 x 50 mm; 100 x 100 mm; 150 x 150 mm; 300 x 300 mm
Cámara de visión	Incluye cámara de visión controlada por software

¹ Extensión a mid-IR disponible bajo solicitud
² Otras rejillas disponibles bajo demanda
³ Basado en una rejilla de 1200 g/mm a 500 nm y un CCD de 26 μm píxeles
⁴ Se pueden recomendar objetivos reflectantes si se trabaja en el UV o se utilizan múltiples fuentes que cubren un amplio rango espectral

Especificaciones de electroluminiscencia

Espectrómetro y detectores
Espectrómetros	MicroHR		iHR320		iHR550
Fuente de ^{excitación 1}	Medidor Keithley Source (serie 2400)
Rango espectral (nm)	250 nm – 14 μm
Rejillas ^{recomendadas 2}	1200 g/mm, 600 g/mm, 150 g/mm
Resolución ^{espectral 3} (nm)	0.39		0.18		0.1
Microscopio
Objetivos del ^{microscopio 4}	Aumento	10X		50X		100X
Etapa de muestra	XYZ (opciones manuales y motorizadas disponibles) – 75 x 50 mm; 100 x 100 mm; 150 x 150 mm
Cámara de visión	Incluye cámara de visión controlada por software

¹ Otras fuentes de tensión de corriente disponibles bajo demanda
² Otras rejillas disponibles bajo demanda
³ Basado en una rejilla de 1200 g/mm a 500 nm y un CCD de 26 μm píxeles
⁴ Se pueden recomendar objetivos reflectantes si se trabaja en el ultravioleta o se utilizan múltiples fuentes que cubran un amplio rango espectral

Especificaciones de Fotocorriente

Espectrómetro y detectores
Espectrómetros	MicroHR		iHR320		iHR550
Fuentes de excitación	Láseres: 266 nm – 1064 nm
	Lámpara de xenón (200 nm – 2200 nm) – Opción ajustable disponible
	Lámpara halógena de tungsteno (> 350 nm) – Opción ajustable disponible
	Láser Supercontinuo (> 400 nm) – Opción ajustable disponible
Medición de Fotocorriente ¹	Medidor Keithley Source (serie 2400)
Rejillas ^{recomendadas 2}	1200 g/mm, 600 g/mm, 150 g/mm
Resolución ^{espectral 3} (nm)	0.39		0.18		0.1
Microscopio
Objetivos del ^{microscopio 4}	Aumento	10X		50X		100X
Etapa de muestra	XYZ (opciones manuales y motorizadas disponibles) – 75 x 50 mm; 100 x 100 mm; 150 x 150 mm; 300 x 300 mm
Cámara de visión	Incluye cámara de visión controlada por software

¹ Extensión a mid-IR disponible bajo solicitud
² Otras rejillas disponibles bajo demanda
³ Basado en una rejilla de 1200 g/mm a 500 nm y un CCD de 26 μm píxeles
⁴ Se pueden recomendar otros objetivos si se trabaja en el ultravioleta o se utilizan múltiples fuentes que cubren un amplio espectro

Especificaciones de dispersión en campo oscuro

Espectrómetro y detectores
Espectrómetros	MicroHR		iHR320		iHR550
Fuentes de excitación	Lámpara de xenón (200 nm – 2200 nm)
	Lámpara halógena de tungsteno (> 350 nm)
	Láser supercontinuo (> 400 nm)
Rango espectral (nm) ¹	200 nm – 2200 nm
Rejillas ^{recomendadas 2}	1200 g/mm, 600 g/mm, 150 g/mm
Resolución ^{espectral 3} (nm)	0.39		0.18		0.1
Microscopio
Objetivos del ^{microscopio 4}	Aumento	10X		50X		100X
Etapa de muestra	XYZ (opciones manuales y motorizadas disponibles) – 75 x 50 mm; 100 x 100 mm; 150 x 150 mm; 300 x 300 mm
Cámara de visión	Incluye cámara de visión controlada por software

¹ Extensión a mid-IR disponible bajo solicitud
² Otras rejillas disponibles bajo demanda
³ Basado en una rejilla de 1200 g/mm a 500 nm y un CCD de 26 μm píxeles
⁴ Otros objetivos disponibles bajo demanda

Caracterización multimodal de materiales de perovskita utilizando el sistema SMS-320 HORIBA: Espectroscopías Raman, PL y TRPL integradoras

Los retos para desarrollar materiales perovskitas estables y procesos de fabricación para uso comercial requieren el uso de varias técnicas espectroscópicas como Raman, Fotoluminiscencia (PL) y Fotoluminiscencia Temporalmente Resuelta (TRPL), etc., para caracterizar y optimizar el diseño y los procesos de fabricación del material.

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Mapeo de microfotoluminiscencia e identificación de defectos que matan el rendimiento en 4H-SiC

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