Espectrómetro VU90 Espectrómetro CCD retroiluminado al vacío con retroiluminación UV (VUV-FUV) -HORIBA

Espectrómetro CCD retroiluminado por UV al vacío más compacto (VUV-FUV)

Horiba ha desarrollado un espectrómetro de vacío ultravioleta (VUV) de tamaño compacto con una cámara CCD dedicada Syncerity-VUV, todo fabricado en su planta de Nueva Jersey. Este sistema único cuenta con un sensor CCD especial con alta sensibilidad en el rango de longitud de onda ultravioleta lejano, con capacidad para medir desde 115 nm con una resolución superior a 0,5 nm bajo vacío o nitrógeno de alta pureza. La cavidad óptica interna del sistema puede recubrirse de negro para supresión definitiva de la luz parásitaria.

Para aplicaciones industriales OEM VUV

Emisión y fluorescencia de VUV

Transmisión y reflectancia VUV

GCVUV: Alternativa a la cromatografía de gases convencional

Examples:

Metrología
Fotolitografía
Petrología
Monitoreo Ambiental
Sabores y fragancias
Seguridad en Alimentos y Bebidas

*Disponible en países seleccionados.

Puedes enviar un correo a Ventas Técnicas OEM en: OEM. US(at)horiba.com o contacta con el fabricante en el hashtag : +1.732.494.8660 Ext. 7733

Primer portátil y más asequible espectrómetro VUV
La huella más pequeña del sistema VUV en el mercado
Ultra alto rendimiento combinado con un rendimiento inigualable bajo luz parásita
Alta resolución de 0,5 nm Resolución y rendimiento seleccionables
CCD enfriado en profundidad con alta eficiencia cuántica
Cobertura extensible de longitud de onda desde UV lejano hasta UV-VIS-NIR

Eficiencia Cuántica CCD

El sensor endurecido con UV ofrece una vida útil aumentada, sin embargo, no hay garantía para ningún sensor expuesto al VUV

Comparación de luz dispersa

Comparación de luz dispersa entre cavidad sin recubrimiento y recubierta (Super Black) medida mediante iluminación de campo lejano usando lámpara de tungsteno – orden cero

Espectro del deuterio

El espectro de la lámpara de deuterio muestra una sensibilidad aumentada a partir de 113 nm con una rendija de 22 μm (resolución de 0,45 nm)

Prueba de intercambiabilidad de rendijas del sistema VUV

Prueba de intercambiabilidad de rendijas del sistema VUV con orificio estenopeico de 40 μm y rendija de 22 μm

Consulta diferentes configuraciones de sistemas FUV y Resolución y Rendimiento Ajustables

Guía de selección de espectrómetros OEM

Consulta y descarga nuestra Guía de Selección de Espectrómetros OEM

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Especificaciones generales del espectrómetro
Cobertura espectral	115 - 230 nm Cobertura total en CCD: 115 - 320 nm (No hay filtro de clasificación de órdenes disponible)
Resolución espectral	0,5 nm con orificio estenopeico de 22 μm, 0,75 nm con orificio estenopeico de 40 μm
Dipersión espectral	12 nm/mm; 0,17 nm/píxel
Distancia focal	90 mm
VUV Óptica	Rejilla y espejo recubiertos de _{MgF 2}
Modo purgado por vacío o nitrógeno	~ ^10-6 Torr con bomba turbomolecular. Prueba de fuga de helio realizada en fábrica. N2 se requiere purga constante de nitrógeno de alta pureza
Opciones	Selección de diferentes alturas de CCDs VUV Montajes cinemáticos para intercambiar orificios (o rendijas) El acabado en metal desnudo es estándar: El recubrimiento super negro reduce la luz parásita
F/ #	~ F/10
Software	LabVIEW Acquisition sortware para evaluación inicial (DLLs proporcionadas para integración de software)

Especificaciones de la cámara de vacío (Syncerity ® VUV 2048 pixel BI Sensor)*
Eficiencia cuántica a 20°C (véanse gráficos más abajo)	Estándar	Especial
Formato de sensor CCD	2048 x 70	Opcionalmente hay alturas aumentadas disponibles
Tamaño del píxel CCD	14 x 14 μm
Altura del CCD	1 mm
CCD QE	3 opciones: consulta los gráficos a continuación
Ventana de cámara	2 opciones: no hay ventana para la respuesta VUV más baja o ventana _{MgF 2}
Refrigeración termoeléctrica profunda	-45°C bajo vacío (10-6 mbar) con +25°C ambiente o -25°C bajo purga _N2
Capacidad de pozo de píxeles únicos	50.000 e ̄/píxel (mínimo); 60.000 e ̄/píxel (típico)
Capacidad completa del registro serial	250.000 e ̄/píxel (mínimo); 500.000 e ̄/píxel (saturación típica del registro de salida)
Velocidades de escaneo	45 kHz y 500 kHz
Ruido de lectura (a 45 kHz y a –45°C)	10 e ̄ (típico) a 14 e ̄ (máximo)
Ruido de lectura (a 500 kHz y a –45°C)	20 e ̄ (típico) a 25 e ̄ (máximo)
Tasa espectral máxima	20 Hz a 45 kHz de velocidad de barrido; 189 Hz a 500 kHz de velocidad de barrido
Digitalización	ADC de 16 bits
Rango dinámico (típico para un solo píxel)	55,500:1
No linealidad (medida en cada cámara)	<0,15% (típico) a 45 kHz (0,4% máximo)
No linealidad (medida en cada cámara)	<0,20% (típico) a 500 kHz (máximo del 1%)
Corriente oscura a –45°C Nota: Tamaño del píxel = 14 μm	0,1 e ̄ /píxel/s (típico)
Ganancias ajustables por software	2, 4 y 10 e ̄ /contan a –45°C
Condiciones medioambientales	Temperatura de funcionamiento de 15°C a 40°C ambiente
	Humedad relativa <70% (no condensante)
	Temperatura de almacenamiento de -25°C a 45°C
Requisitos de potencia Fuente de alimentación AC/DC (proporcionada)	90-264 VAC, 47–63 Hz

*Especificaciones, factor de forma y cubierta del espectrómetro sujetos a cambios sin previo aviso. No se necesita ninguna licencia LabVIEW™ para ejecutar nuestro software de adquisición.