La espectroscopía fluorescente de rayos X es una técnica analítica elemental para analizar una microárea de una muestra utilizando haces de rayos X y obtener imágenes de distribución elemental en una muestra mediante adquisición de espectro en la posición individual de los píxeles.
La XRF es generalmente una técnica analítica elemental para muestras a granel porque el tamaño de la mancha va desde varios milímetros hasta varios centímetros. Por lo tanto, las muestras inhomogéneas deben molerse y compactarse en un pellet o fusionarse dentro de una matriz de vidrio. Esta preparación de la muestra es laboriosa y normalmente requiere grandes volúmenes de material.
Por otro lado, la micro-XRF permite el análisis elemental a nivel microscópico de forma no destructiva sin un pretratamiento especial de la muestra, gracias a su alta resolución espacial.
Por ello, la micro-XRF se utiliza ampliamente en una amplia variedad de campos de investigación, incluyendo materiales, geología y mineralogía, gemología, arqueología, electrónica, ciencias ambientales, farmacéutica, biología y medicina. (Puedes encontrar la amplia gama de notas de aplicación usando micro-XRF en nuestra página de producto.)
Un sistema de imagen XRF combina el movimiento automatizado de muestras con análisis rápido EDXRF elemental. La muestra se escanea rápidamente a través del haz de rayos X, y los espectros se leen continuamente desde el detector y se correlacionan con una posición concreta en la muestra. La distribución de un elemento particular puede mostrarse representando una imagen de la intensidad máxima del elemento en cada posición de píxel. El resultado son imágenes detalladas en falso color que muestran áreas de alta y baja concentración para cada elemento elegido.
Dado que EDXRF captura un espectro con información de todos los elementos detectables simultáneamente, se pueden imaginar múltiples elementos sin ninguna desventaja temporal. Los sistemas modernos de imagen micro-XRF como el XGT-7000 permiten la adquisición de imágenes en áreas que van desde aproximadamente 0,25 mm2 hasta 10 cm x 10 cm o más. Así, es posible analizar muestras con una amplia gama de tamaños, tanto a escala macro como micro.
Micro-XRF puede proporcionar funcionalidad adicional de imagen: imagen por rayos X transmitida. Dado que los microhaces de rayos X presentan una colimación casi perfecta, conservan sus diámetros e intensidad estrechos incluso a grandes distancias de la punta capilar. Dado que muchas muestras son parcialmente transparentes a los rayos X, se puede usar un pequeño detector de centelleo directamente debajo de la muestra (y alineado con la óptica de rayos X) para medir la intensidad de los rayos X que atraviesan la muestra. Al escanear la muestra para generar imágenes de elementos, se crea simultáneamente una imagen de intensidad de rayos X transmitidos.
El resultado es similar a las radiografías típicas realizadas en hospitales, pero se beneficia de la ultra-alta resolución espacial que ofrecen los sistemas micro-XRF. Por tanto, es posible generar imágenes detalladas de la estructura física de una muestra que normalmente serían invisibles al ojo. Por ejemplo, huecos en la soldadura, grietas y cambios de fase en minerales/rocas, y circuitos electrónicos encerrados en plasticcan se benefician de las capacidades de imagen por rayos X de transmisión de sistemas micro-XRF como los instrumentos XGT.
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