Un sistema Raman combinado/híbrido/con guión combina el análisis Raman con otra técnica analítica; ejemplos incluyen Raman-AFM, Raman-PL y Raman-Epifluorescencia. Los sistemas con guion permiten un análisis de muestras más completo en un solo sistema de banco y ofrecen un menor coste de propiedad en comparación con dos sistemas individuales. También eliminan la necesidad de alinear una muestra en sistemas separados, que consume mucho tiempo, para permitir que la misma área sea analizada con técnicas complementarias.
Existe una variedad de soluciones Raman combinadas, que ofrecen diferentes capacidades al usuario.
Combinar el análisis Raman con la detección por fotoluminiscencia (PL) permite caracterizar tanto las propiedades vibracionales como electrónicas de los materiales en una única plataforma de bancada. Las aplicaciones típicas incluyen el análisis de semiconductores y nanomateriales para la determinación de banda prohibida, niveles de impurezas y detección de defectos, mecanismos de recombinación y calidad de materiales.
Combinar el análisis Raman con un microscopio de fuerza atómica (AFM) puede proporcionar información topográfica de muestras a escala nanométrica, junto con la información química obtenida de la espectroscopía y la imagen Raman. El resultado final es una caracterización de la muestra más completa. La combinación de Raman y AFM también permite investigar la dispersión Raman mejorada por punta (TERS) para un verdadero análisis Raman a nanoescala
La imagen por epifluorescencia se utiliza ampliamente en campos biológicos para la visualización de materiales celulares o tisulares, pero no ofrece la información molecular detallada que Raman puede proporcionar. Combinar ambas técnicas en un único sistema de microscopio permite localizar rápidamente regiones de interés dentro de muestras biológicas y realizar un análisis químico dirigido.
HORIBA colabora con la mayoría de los principales fabricantes mundiales de microscopios electrónicos de barrido (SEM) para ofrecer capacidades de multi-caracterización.
Es posible combinar Raman y fotoluminiscencia (PL) en un solo sistema de microscopio. La espectroscopía de fotoluminiscencia (PL) es un método sin contacto y no destructivo para sondear la estructura electrónica de los materiales. Está causada por un proceso de absorción-emisión de fotones en dos pasos que involucra los estados electrónicos del material. La emisión de luz a través de este proceso es fotoluminiscencia. Combinando el análisis Raman con la detección de PL, es posible caracterizar tanto las propiedades vibracionales como electrónicas de los materiales en una única plataforma de banco.
Los sistemas combinados Raman-PL permiten capacidades de mapeo confocal con resolución espacial submicronica. Es posible una amplia gama de longitudes de onda de excitación, desde la UV hasta la NIR, lo que permite controlar la profundidad de penetración en el material y, por tanto, controlar el volumen muestreado. Los sistemas pueden configurarse con diferentes detectores como CCDs e InGaAs, que proporcionan una detección de alta sensibilidad desde la salida UV hasta 1,5 μm y más allá. Las etapas de temperatura pueden usarse en combinación con los sistemas Raman-PL, permitiendo el análisis de muestras a temperaturas de hasta 4,2K.
La combinación de las técnicas Raman y epifluorescencia en un solo sistema de microscopio permite localizar rápidamente regiones de interés dentro de muestras biológicas y realizar análisis químicos dirigidos.
Es posible combinar Raman y epifluorescencia en un solo sistema de microscopio. La imagen por epifluorescencia se utiliza ampliamente en campos biológicos para la visualización de materiales celulares o tisulares, pero no ofrece la información molecular detallada que Raman puede proporcionar. Combinar ambas técnicas en un único sistema de microscopio permite localizar rápidamente regiones de interés dentro de muestras biológicas y realizar un análisis químico dirigido. Experimentos como FISH (hibridación fluorescente in situ) son habitualmente posibles en estos sistemas, lo que permite combinarlos con análisis químico Raman.
El análisis combinado Raman y AFM (Microscopio de Fuerza Atómica) proporciona información mejorada sobre la composición y estructura de la muestra al recopilar datos físicos y químicos en la misma área muestral.
El análisis Raman y AFM (Microscopio de Fuerza Atómica) pueden combinarse en un único sistema de microscopio, abriendo nuevas capacidades interesantes y proporcionando información mejorada sobre la composición y estructura de la muestra al recopilar datos físicos y químicos en la misma área muestral.
Por un lado, los AFM proporcionan propiedades topográficas, mecánicas, térmicas, eléctricas y magnéticas hasta la resolución molecular (~ nm, sobre el área de μm2); por otro lado, la espectroscopía e imagen Raman confocal proporciona información química específica sobre el material, con resolución espacial limitada por difracción (submicron).
Existen dos configuraciones diferentes para el acoplamiento óptico de sistemas AFM/Raman: una en transmisión y otra en reflexión.
Técnicas como la dispersión Raman mejorada por punta (TERS) y la fotoluminiscencia mejorada por punta (TEPL) también pueden llevarse a cabo con estos sistemas, para abrir el potencial de un verdadero análisis espectroscópico a escala nanométrica.
Existen dos configuraciones diferentes para el acoplamiento óptico de sistemas AFM/Raman: una en transmisión y otra en reflexión.
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