Diferentes materiales semiconductores, como ZnO, GaN, GaAs, CdTe, CIGS, InP y GaSb, se caracterizan por un sistema SMS que emite fotoluminiscencia de 200 nm a 2000 nm.
El mapeo PL realizado en un dispositivo InP fabricado muestra la intensidad máxima de PL, la posición máxima y el FWHM de la emisión y su histograma atribuido de los datos.
| Espectrómetro y detectores | ||||
|---|---|---|---|---|
| Espectrómetros | MicroHR | iHR320 | iHR550 | |
| Láseres de excitación 1 | 266 nm, 325 nm, 405 nm, 532 nm, 633 nm, 785 nm, 980 nm, 1064 nm | |||
| Rango espectral (nm) 2 | 250 nm – 2200 nm | |||
| Rejas recomendadas 3 | 1800 g/mm, 600 g/mm, 300 g/mm | |||
| Resolución espectral 4 (nm) | 0.39 | 0.18 | 0.1 | |
| Microscopio | |||||
|---|---|---|---|---|---|
| Objetivos del microscopio 5 | Aumento | 10X | 50X | 100X | |
| Tamaño del punto (acoplado a fibra) | < 50 μm | < 12 μm | < 6 μm | ||
| Tamaño de punto (espacio libre acoplado) | < 10 μm | < 5 μm | < 2 μm | ||
| Etapa de muestra | XYZ (opciones manuales y motorizadas disponibles) – 75 x 50 mm; 100 x 100 mm; 150 x 150 mm; 300 x 300 mm | ||||
| Cámara de visión | Incluye cámara de visión controlada por software | ||||
1 Otras longitudes de onda láser disponibles bajo demanda
2 Extensión a mid IR disponible bajo solicitud
3 Otras rejillas disponibles bajo demanda
4 Basado en una rejilla de 1200 g/mm a 500 nm y un CCD de 26 μm píxeles
5 Se pueden recomendar objetivos reflectantes si se trabaja en el UV o se utilizan múltiples fuentes que cubren un amplio rango espectral
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