Análisis de obleas grandes

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Análisis de obleas grandes en semiconductores

Imagina comprimir chips más potentes en una sola oblea. Esa es la promesa de grandes semiconductores de obleas, empujando los límites más allá del diámetro estándar de 300 mm hacia 450 mm.

Obleas más grandes significan más chips por tirada, aumentando la eficiencia y potencialmente reduciendo los costes por chip. También significa una producción más sencilla y rápida, con menos pasos, optimizando la producción y potencialmente mejorando la calidad del chip.

Y los grandes semiconductores de obleas significan allanar el camino para chips aún más complejos y potentes. De hecho, se utilizan para computación de alto rendimiento, inteligencia artificial y otras áreas que requieren alta potencia y densidad.

Pero existen desafíos. Desarrollar y utilizar esta tecnología no es fácil, ya que requiere grandes inversiones por parte de los fabricantes. Y trabajar con estos requiere superar obstáculos técnicos en el manejo, procesamiento y pruebas. Ahí es donde entra HORIBA asunto. Sus soluciones de espectroscopía de microscopía estándar pueden detectar defectos en estas grandes obleas utilizando plataformas sobredimensionadas para el análisis.

Sistema de obleas grandes SMS

Añadir espectroscopía a CUALQUIER microscopio

  • Técnicas espectroscópicas múltiples
  • Mayor cobertura espectral desde UV hasta infrarrojo cercano
  • Colocación simple
  • Espectroscopía Raman para análisis estructural
  • Espectroscopía de vida útil para dinámica de portadoras y caracterización de defectos
  • Reflectancia para emptrología y análisis de grosores

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