太陽電池製造プロセス - 薄膜シリコン系

2箇所の比抵抗を同時測定・同時出力 耐薬品性センサ採用

最新技術と伝統技術で可能になった、低ランニングで最高性能の自動COD測定装置 CODA-500。

純水や注射用水などの電気伝導率（導電率）を高精度に計測

最高感度0.01μg/L(0.01ppb)で、極低濃度のシリカを測りたいという要求に確実にお答えします

生産終了いたしました。後継機種はH-1シリーズHC-200Fをご参照ください。

河川・湖沼・閉鎖性海域等の全窒素・全りん濃度を高精度で測定する装置です。測定試薬の長寿命化、消費電力の削減などにより、ライフサイクルコストの低減を実現しました。

【最新モデル】 エネルギー分散型X線分析装置 EMAXEvolution EX-270/370/470はこちら

 電子顕微鏡と組み合わせて微小領域の異物解析、組成分析に最適です。分析業務全体をわかりやすくサポートするフローチャート形式のナビゲータを搭載。高度な機能を使いやすく−これからのX線分析装置の姿です。

rf-GD-OES（GDS）分析装置は、Arプラズマにより試料をスパッタリングさせ、スパッタされた原子を原子発光させることで、元素分析を行う、迅速かつ簡単な表面分析装置・深さ方向元素分析装置として、薄膜・めっき・熱処理・表面処理・コーティングなどの研究開発・生産技術・品質管理の分野において、幅広く活用されています。高周波方式グロー放電を採用しているため、非導電性試料でも表面分析が可能です。

多くの科学研究者の皆様にはLabRAM HRシリーズを10年以上にわたりご利用いただき、 23,000件を超える学術報告にLabRAM HRシリーズのデータが掲載されています。LabRAM　HR Evolutionは、紫外～近赤外領域における高いスペクトル分解能測定を継承するとともに、サブミクロンスケールの空間分解能、オートメーション機能を強化した最高峰の顕微ラマン分光装置です。

10μmの革命！真空チャンバ（デュアル・バキューム・チャンバ）装備によりサンプル形態・分析目的に合わせ、分析環境を切替、軽元素の高感度分析が可能！高純度Si半導体検出器搭載。

チャンバ内に存在するガス成分をモニターする四重極質量分析計。

HORIBA POCl3自動供給装置は、高い生産性、コスト削減、プロセス安定性、高い安全性、信頼性を実現しています。

気液混合気化方式を採用した小型液体材料気化システム。液体材料の高効率気化を実現。

液体材料を｢安全に」「無駄なく」「迅速に」液体材料気化システムへ自動供給できるオートレフィルシステム

プロセス装置に搭載し排ガス成分（SiF4、CF4）をリアルタイムにモニタリング可能。

バブリング供給ライン用インラインガス濃度モニタ。材料ガスの安定供給に。

薄膜（膜厚）測定で、より簡単に最大の効果を

新しい膜厚測定ツールとして開発された"Auto SE"は、プッシュボタン感覚での薄膜サンプルの自動測定を可能としております。サンプル分析は厚い膜でもわずか数秒で実施でき、膜厚・屈折率・表面ラフネス・膜不均質性などを含む分析結果をレポート形式にて提供いたします。"Auto...

エンドポイントの検出またはプラズマのコンディション管理を行うプラズマ発光モニタ。

販売を終了いたしました。