Partica

レーザー回折/散乱式の光学系に、動的画像式の光学系を一体化し、粒子径分布と粒子形状を同時分析

異なる測定原理の結果を一度に比較・検証できるため、測定回数や時間、作業負担を削減し、分析結果の信頼性を向上します。

■ 特長

レーザー回折/散乱式

• 業界トップクラス^※1の高精度測定（標準粒子の規格値に対して±0.6%以内） ^※1当社調べ（2026年8月時点）
• 幅広い測定レンジ（湿式：10 nm ～ 3 mm、乾式：100 nm ～ 5 mm）
• 光学システムの改良による高感度測定

動的画像式

• 解像度の異なる2台のカメラを搭載し、約1 μm〜数mmの粒子形状を連続測定
• 数万個の粒子を短時間で解析（最大300フレーム／秒）
• 直径・短径・包絡度・アスペクト比など、約40種類の画像解析パラメータを抽出
• 静的画像解析法の対物レンズ交換や電気的検知帯法で必要なアパーチャー交換などの切り替え作業が不要

レーザー回折/散乱法の詳細はこちら 〉

注入から洗浄まで、すべてを1分で完結

試料を分散媒に分散させ、測定し、洗浄するまでのすべての処理を1分間で完結します。 試料投入槽から測定部（セル）に試料を効率よく送り込む構造、停滞や付着、分級を抑えるポンプ設計、粒子や分散液が効率よく排出されるリンスシーケンスの工夫などにより、高速処理を可能にしています。

豊富なアクセサリにより、多様な形態の試料を分析

試料の状態に応じた柔軟な測定が可能です。

• 粉末、スラリーなど分析目的に応じたサンプリングアクセサリを搭載可能
• 希少な材料や環境負荷の大きい試料など、少量の試料を測定可能 　　

高濃度での粒子径分布測定の詳細はこちら 〉

高濃度試料 測定セル		原液（希釈なし）または原液に近い状態で測定できます。 粒子径分布・粒子形状または試料画像の取得・解析ができます。 ※粒子径分布測定と粒子画像解析は同時にできません
バッチ式セルユニット		最少容量5 mLから測定できます。 希少な試料や蓋をしたセルで取り扱いたい試料におすすめです。 粒子径分布と粒子形状の両方が測定できます。
ミニフロー・ 小容量循環システム		分散媒量35 mLでのフロー式測定が可能です。 分散媒に有機溶媒を用いる際におすすめです。 粒子径分布と粒子形状の両方が測定できます。
乾式測定ユニット		粉末状態のまま測定できます。 自由落下での非分散測定、圧縮空気を用いた強制分散測定の両方に対応します。 粒子径分布と粒子形状の両方が測定できます。

湿式測定事例

シリカスラリー

高濃度試料をレーザー回折/散乱式で粒子径分布を測定する際、少数の粗大粒子が検出されにくい場合があります。Particaでは、粒子径分布データに加えて粒子画像を取得できるため、個数が少ない粗大粒子を検出し、その形状も確認することが可能です。

レーザー回折/散乱式による粒子径分布測定では、個数比率が低く散乱光強度が弱いため検出が難しい場合も、動的画像式による検出を組み合わせることで、試料の状態をより詳細に捉えることが可能になりました。

点鼻薬の粒子解析

点鼻薬中粒子の粒子径分布を個数基準で解析しました。取得した粒子画像と組み合わせることで、分布データに加え、粒子形状や凝集状態も評価可能です。

乾式測定事例

アルミナ粒子

粉末試料に関して、数μmの粒子から数mm程度の凝集物まで幅広い粒子径範囲で画像解析を行うことが可能です。

高いカスタマイズ性を備えた、拡張性の高いプラットフォーム

Particaはモジュール設計を採用し、用途や運用体制に応じて柔軟に拡張できるプラットフォームです。
遠隔操作、自動化、データインテグリティ対応など、研究開発から製造現場まで幅広いニーズに対応します。

• モジュール設計による高い操作性と柔軟な拡張性
• 遠隔操作・自動化による効率的な運用
• 医薬品製造で求められるデータインテグリティ対応
• 液体・スラリー・粉末に対応する自動サンプリング機構
• 液体試料の希釈・分散剤注入、粉末試料の投入部清掃などの自動前処理機能

自動サンプリングロボット（オプション）

自動サンプリングロボットを組み合わせることで、試料投入から測定、結果送信までの一連の流れを自動化できます。試料棚に試料をセットするだけで運用できるため、作業効率の向上と人的ミスの低減に貢献します。

• 試料棚に試料をセットするだけの簡単操作
• 一連の処理フローを自動で実行
• 手作業ミスを防ぎ、業務効率を向上

Particaと「自動サンプリングロボット」による自動測定システム例

サービス・サポート

受託分析・トレーニング   Analytical Solution Plaza 〉 分析機器選定時のデモンストレーションのほか、受託分析、共同研究、アプリケーショントレーニング等を通して、お客様のニーズに合わせた分析技術を提供いたします。
保守点検  All in One Plan 〉 年一回の保守点検、修理作業時の部品交換、装置復旧時の作業費など装置の保守に必要なすべてを保証し、装置を最適な状態で長期間安心してご使用いただけます。

開発ストーリー：粒子を「はかる」技術で、材料の開発・製造を新たなステージへ  〉

「Partica」開発プロジェクトの背景や、開発者の想いをご紹介します。
お客様の課題解決に向けた、HORIBAの粒子解析技術への挑戦を紹介しています。

技術情報誌「Readout」 

HORIBAでは、技術情報誌として「Readout」を発行しており、その誌名には、同社が創造・育成した製品や技術の情報を広くお知らせし、読み取っていただきたいという思いが込められています。

レーザー回折・動的画像式 粒子径・形状解析装置 Partica による新たな粒子計測の展開 〉

立脇 康弘* | 2026年8月31日 |   技術論文
*株式会社堀場製作所

Analytical Solution Plaza United Kingdom：共創科学が導く実社会へのインパクト 〉

Simon Fitzgerald, William Leigh* | 2026年8月31日 |   技術論文
*HORIBA UK Limited

HORIBA Partica CENTRIFUGE CN-300を用いた CMP スラリーの高分解能粒子径解析 〉

Kevin Shen, Wan-Hsin Huang(Ivy)* | 2026年8月31日 |   技術論文
*HORIBA Taiwan, Inc.