Scanner e base SmartSPM

Área de digitalização da amostra: 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10%)

Tipo de varredura por amostra: Não linearidade XY 0,05%; Não linearidade Z 0,05%

Ruído: 0,1 nm RMS na dimensão XY em uma largura de banda de 200 Hz com os sensores de capacitância ligados; 0,02 nm RMS na dimensão XY em uma largura de banda de 100 Hz com os sensores de capacitância desligados; < 0,04 nm RMS no sensor de capacitância Z em uma largura de banda de 1000 Hz.

Frequência de ressonância: XY: 7 kHz (sem carga); Z: 15 kHz (sem carga)

Movimento X, Y, Z: Controle digital em malha fechada para os eixos X, Y e Z; Alcance de aproximação motorizada em Z de 18 mm

Dimensões da amostra: Máximo 40 x 50 mm, 15 mm de espessura.

Posicionamento da amostra: Faixa de posicionamento motorizada da amostra de 5 x 5 mm

Resolução de posicionamento: 1 µm
 

Cabeça AFM

Comprimento de onda do laser: 1300 nm, não interfere com detectores espectroscópicos.

Ruído do sistema de registro: até < 0,1 nm

Alinhamento: Alinhamento totalmente automatizado de cantilever e fotodiodo.

Acesso à sonda: Acesso livre à sonda para manipuladores e sondas externas adicionais.
 

Modos de medição SPM

Microscopia de Força Atômica (AFM) de contato no ar/(líquido opcional); Microscopia de Força Atômica (AFM) semicontato no ar/(líquido opcional); Microscopia de Força Atômica (AFM) sem contato; Imagem de fase; Microscopia de Força Lateral (LFM); Modulação de força; Microscopia de Força Atômica Condutiva (opcional); Microscopia de Força Magnética (MFM); Sonda Kelvin (Microscopia de Potencial de Superfície, SKM, KPFM); Microscopia de Força Capacitiva e Elétrica (EFM); Medição de curva de força; Microscopia de Força de Resposta Piezoelétrica (PFM); Nanolitografia; Nanomanipulação; Microscopia de Tunelamento de Varredura (STM) (opcional); Mapeamento de fotocorrente (opcional); Medições de características volt-ampère (opcional)
 

Modos de espectroscopia

Imagem e espectroscopia confocal Raman, de fluorescência e de fotoluminescência

Espectroscopia Raman com intensificação de ponta (TERS) e fotoluminescência com intensificação de ponta (TEPL) em modos AFM, STM e de força de cisalhamento.

Microscopia e Espectroscopia Óptica de Varredura de Campo Próximo (NSOM/SNOM)
 

Opções

• Unidade Condutiva: Faixa de corrente de 100 fA a 10 µA / 3 faixas de corrente (1 nA, 100 nA e 10 µA) selecionáveis por software.
• Célula líquida / Célula eletroquímica
• Controle de temperatura para célula líquida: Aquecimento até 60°C

• Câmara Ambiental

• Sistema de controle de umidade: Faixa de umidade relativa de 10 a 85% / Estabilidade da umidade relativa de ±1%

• Módulo de aquecimento/resfriamento: de -50°C a +100°C
• Módulo de aquecimento: aquecimento até 300°C / estabilidade de temperatura de 0,1°C, ou aquecimento até 150°C / estabilidade de temperatura de 0,01°C.
• Suporte para diapasão com força de cisalhamento e força normal combinadas
• porta-STM
• Módulo de Acesso ao Sinal
  
   

Acesso Óptico

Capacidade de usar simultaneamente objetivas apocromáticas de plano superior e lateral: até 100x, NA = 0,7 pelo plano superior ou lateral; até 20x e 100x simultaneamente.

Scanner piezoelétrico de circuito fechado para alinhamento espectroscópico a laser ultraestável de longo prazo: Área de medição: 20 µm x 20 µm x 15 µm; Resolução: 1 nm
 

Espectrômetro

Faixa de comprimento de onda: UV-VIS-NIR; Sistema de espelho acromático de banda larga e alto rendimento, otimizado de 300 nm a 1600 nm sem alteração da óptica.

Lasers integrados: Até 4 lasers de estado sólido, com comprimentos de onda disponíveis desde o ultravioleta próximo (NUV) até o infravermelho próximo (NIR).

Lasers externos: Ilimitados, geralmente para lasers de gás de grande porte e lasers ultrarrápidos.

Velocidade de varredura do espectrômetro: até 400 nm/s, com grade de 600g/mm, montada em torre padrão de 4 grades.

Número de grades: ilimitado; torre motorizada intercambiável com 4 grades.

Imagens rápidas: <1ms/espectro SWIFT, SWIFT XS EMCCD, SWIFT repetitivo, SWIFT eXtended Range e SmartSampling para imagens ultrarrápidas.

Corte de número de onda padrão: 30 ^cm⁻¹, com filtros de borda para comprimentos de onda de 532, 638 e 785 nm, rejeição de injeção, transmissão >99%.

Software

Pacote de software integrado incluindo SPM completo, controle de espectrômetro e aquisição de dados, conjunto de ferramentas para análise e processamento de dados espectroscópicos e SPM, incluindo ajuste espectral, deconvolução e filtragem; módulos opcionais incluem conjunto de ferramentas para análise univariada e multivariada (PCA, MCR, HCA, DCA), detecção de partículas e funcionalidades de busca espectral.