Faixa de análise dinâmica
Enxofre: 0,7 ppm - 10,0% em peso
Cloro: 0,6 ppm - 10,0% em peso
• Ajuste automático de escala para curvas extensas.
• Não são necessários gases de purga.
• Máximo de 60 curvas de calibração e 300 pontos de dados por curva.
• As curvas de calibração podem ser editadas após serem salvas.
• Tempos de medição de 30 a 999 segundos.
• A medição se repete de 1 a 99 vezes.
• O recurso de correção de oxigênio elimina interferências que podem afetar as leituras de enxofre.
• É possível medir diversos tipos de amostras* [Sólidos, Líquidos, Pós, Pastas, Pellets e Filmes].
• Permite programar até 20 contas de administrador e usuário.
• Janela de Kapton substituível pelo usuário.
• Ajuste micrométrico do ângulo do cristal de grafite para melhor sensibilidade.
• Computador independente para permitir atualizações de software eletronicamente.
• Dispositivos de intertravamento integrados para proteger o usuário final contra raios X.
• Detector de deriva de silício/janela de berílio para raios X.
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