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Aprende más sobre la elipsometría espectroscópica viendo vídeos educativos y descubre algunas de sus aplicaciones con nuestra colección de seminarios web.
La elipsometría espectroscópica es una técnica óptica sensible a la superficie, no destructiva y no intrusiva, ampliamente utilizada para capas delgadas y caracterización de superficies. Se basa simplemente en el cambio en el estado de polarización de la luz al reflejarse oblicuamente desde una muestra de película delgada. Dependiendo del tipo de material, los elipsómetros espectroscópicos pueden medir un grosor desde unos pocos Å hasta decenas de micras. También es una técnica excelente para la medición en varias capas.
La elipsometría espectroscópica permite caracterizar una variedad de propiedades de películas finas, como el grosor de la capa, propiedades ópticas (n,k), la brecha de banda óptica, el grosor de la interfaz y rugosidad, la composición de la película, la uniformidad por profundidad y área, y más.
Los materiales adecuados para la elipsometría espectroscópica incluyen semiconductores, dieléctricos, polímeros, orgánicos y metales. La elipsometría también puede utilizarse para estudiar interfaces sólido-líquido o líquido-líquido.
HORIBA elipsómetros espectroscópicos utilizan tecnología innovadora para realizar mediciones de modulación de polarización de alta frecuencia sin ningún movimiento mecánico, proporcionando así un rango más rápido, amplio y mayor precisión en la caracterización en comparación con los elipsómetros convencionales.
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