Smart SE

SmartSE-HORIBA

Ellipsómetro espectroscópico potente y rentable

 

Smart SE, Elipsómetro Espectroscópico Potente y Rentable
 
El Smart SE de HORIBA es un elipsómetro espectroscópico versátil para mediciones rápidas y precisas en películas finas. Caracteriza el grosor de la película fina desde unos pocos Angstroms hasta 20μm, las constantes ópticas (n,k) y las propiedades estructurales de la película delgada (como rugosidad, capas ópticas gradadas y anisotrópicas, etc.).

El rango espectral de 450 a 1000nm se mide en pocos segundos y los datos elipsométricos se analizan utilizando la plataforma de software DeltaPsi2. El software integra dos niveles de software para cumplir tanto el análisis rutinario con recetas predefinidas como el análisis avanzado con modelado elipsométrico de última generación.

El elipsómetro Smart SE es una herramienta rentable de investigación y desarrollo en película delgada sin concesiones en las características, y ofrece un rendimiento de calidad de investigación a un precio económico. Proporciona un sistema de visión integrado para una posición precisa de puntos, siete micromanchas automatizadas con tamaños que van hasta unas pocas decenas de micras para la medición de pequeñas características, y la capacidad de medir la matriz Mueller completa de 16 elementos en solo unos segundos para el estudio de muestras complejas.

El diseño flexible del Smart SE permite la automatización total de la etapa de muestra y del goniómetro, así como su uso in situ en cámaras de proceso. Se adapta a cualquier aplicación o presupuesto para una amplia variedad de áreas, incluyendo microelectrónica, fotovoltaica, pantallas, recubrimientos ópticos, tratamientos superficiales y compuestos orgánicos.

 

 

Segment: Científico
Empresa de Fabricación:HORIBA France SAS
  • Rápido y preciso
  • Fácil de actualizar
  • Visualización de tu muestra puntual

 

 

Configuraciones estándar
Rango de espectros:450nm a 1000nm
Resolución de espectrosMejor que 3nm
Fuente de luzCombinado halógeno y LED azul
Tiempo de medición<1 segundo a 10 segundos
Tamaño de la viga

75μm * 150μm, 100μm * 250μm,

100μm * 500μm, 150μm * 150μm,

250μm * 250μm, 250μm * 500μm,

500μm*500μm

Ángulo de incidencia45 0 a 90 0 por paso de 5 0
Tamaño de la muestraHasta 200 mm
Alineación de muestrasAjuste manual de altura y inclinación de 17 mm
Dimensiones100cm * 46cm * 23cm (W*H*D)
Actuaciones
Precisión aérea directaΨ=45 0 ±0,05 0 Δ=0 0 ±0,2 0
Precisión del espesor en óxido de 1000 Å0.04%
Repetibilidad de espesor en óxido de 1000 ű0.02%

 

 

Opciones

  • Ángulo de incidencia automatizado de 45 0 a 90 0 por paso de 0,01 0
  • Bridas ajustables in situ para montaje en la cámara de proceso
  • Etapas de calefacción y refrigeración
  • Celdas líquidas y electroquímicas
  • Sistema de autocolimación con cruz

Solicitud de Información

Tiene alguna pregunta o solicitud? Utilice este formulario para ponerse en contacto con nuestros especialistas.

* Estos campos son obligatorios.

Productos relacionados

Auto SE
Auto SE

Elplipsómetro espectroscópico para medición simple de películas delgadas

GD-Profiler 2™
GD-Profiler 2™

Espectrómetro de emisión óptica de descarga luminosa por radiofrecuencia pulsada

Software GDOES
Software GDOES

Cuántica e imagen

LabRAM Odisea
LabRAM Odisea

Raman Confocal y Espectrómetro de Alta Resolución

LabRAM Soleil
LabRAM Soleil

Espectroscopio Raman - Microscopio de imágenes automatizado

UVISEL Plus
UVISEL Plus

Ellipsómetro espectroscópico de FUV a NIR: 190 a 2100 nm

XploRA™ PLUS
XploRA™ PLUS

Espectrómetro MicroRaman - Microscopio Raman Confocal

Auto SE
Auto SE

Elplipsómetro espectroscópico para medición simple de películas delgadas

Auto Soft
Auto Soft

Interfaz intuitiva de auto-soft para la Auto SE y Smart SE

DeltaPsi2 Software
DeltaPsi2 Software

Una plataforma para HORIBA elipsómetros

Serie LEM
Serie LEM

Monitor de punto final de cámara basado en interferometría láser en tiempo real

Mesa-50K
Mesa-50K

Analizador de fluorescencia de rayos X

Métodos
Métodos

Configuración de recuperación y automatización de procesos

Script y ActiveX
Script y ActiveX

Personaliza con VBS

UVISEL Plus
UVISEL Plus

Ellipsómetro espectroscópico de FUV a NIR: 190 a 2100 nm

XGT-9000
XGT-9000

Microscopio analítico de rayos X (Micro-XRF)

XGT-9000SL
XGT-9000SL

Microscopio analítico de rayos X
con una cámara súper grande

Auto SE
Auto SE

Elplipsómetro espectroscópico para medición simple de películas delgadas

UVISEL Plus
UVISEL Plus

Ellipsómetro espectroscópico de FUV a NIR: 190 a 2100 nm

Corporativo