La espectroscopía de fotoluminiscencia (PL) es un potente método óptico utilizado para caracterizar materiales. El PL puede utilizarse para encontrar impurezas y defectos en semiconductores de silicio y elementos del grupo III-V, así como para determinar las bandas prohibidas de los semiconductores. Un material absorbe la luz, creando un par electrón-hueco; un electrón de la banda de valencia salta a la banda de conducción dejando un hueco . El fotón emitido al recombinar corresponde a la diferencia de energía entre las bandas de valencia y conducción, y por tanto tiene una energía menor que el fotón de excitación.
PMT de conteo analógico/fotonal de doble modo
Espectrógrafos de imagen de triple rejilla de distancia focal corta
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